申请/专利权人：无锡市晶源微电子股份有限公司

申请日：2023-09-11

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117214661B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R19/00;G01R1/30

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.19#授权;2023.12.29#实质审查的生效;2023.12.12#公开

摘要：本发明涉及电路测试技术领域，具体公开了一种针对运放的输入失调电压的测试装置，包括：第一运放的同相输入端与共模电压输入端连接，第一运放的输出端分别与第一运放的反相输入端、第一电容、第三电阻和第二测试端连接；第三电阻分别与第四电阻和第二运放的反相输入端连接，第四电阻分别与第二运放的输出端和第一测试端连接；第二电容并联在第四电阻两端；第二运放的同相输入端与被测运放的输出端连接，第二运放的输出端与第二电阻连接，第二电阻分别与第一电阻和第三运放的同相输入端连接；第一电阻与第二测试端连接，第三运放的输出端分别与第三运放的反相输入端和被测运放的反相输入端连接；被测运放的同相输入端与共模电压输入端连接。

主权项：1.一种针对运放的输入失调电压的测试装置，其特征在于，包括：测试电路单元和被测电路单元；所述测试电路单元包括：第一运放A1、第二运放A2、第三运放A3，第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第一电容C1和第二电容C2；所述被测电路单元包括：被测运放A；所述第一运放A1的同相输入端与共模电压输入端Vcm连接，所述第一运放A1的输出端分别与所述第一运放A1的反相输入端、所述第一电容C1的一端、所述第三电阻R3的一端和第二测试端T2连接；所述第一电容C1的另一端接地；所述第三电阻R3的另一端分别与所述第四电阻R4的一端和所述第二运放A2的反相输入端连接，所述第四电阻R4的另一端分别与所述第二运放A2的输出端和第一测试端T1连接；所述第二电容C2并联在所述第四电阻R4的两端；所述第二运放A2的同相输入端与所述被测运放A的输出端连接，所述第二运放A2的输出端与所述第二电阻R2的一端连接，所述第二电阻R2的另一端分别与所述第一电阻R1的一端和所述第三运放A3的同相输入端连接；所述第一电阻R1的另一端与所述第二测试端T2连接，所述第三运放A3的输出端分别与所述第三运放A3的反相输入端和所述被测运放A的反相输入端连接；所述被测运放A的同相输入端与所述共模电压输入端Vcm连接。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 无锡市晶源微电子股份有限公司 一种针对运放的输入失调电压的测试装置

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