申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司

申请日：2023-03-06

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN116047126B

主分类号：G01R1/04

分类号：G01R1/04;G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.19#授权;2023.05.19#实质审查的生效;2023.05.02#公开

摘要：本公开涉及一种测试座、电路板、以及老化测试装置，测试座包括：座体、第一电连接部、第二电连接部以及压紧件。座体设有至少两个安装部，安装部用于放置芯片样品。第一电连接部用于与芯片样品电性连接。第二电连接部用于与电路板电性连接，还与第一电连接部电性连接。压紧件用于使芯片样品固定于相应的安装部上。由于座体上设置有至少两个安装部，至少两个安装部分别对应装设至少两个芯片样品，并通过压紧件压紧固定，使得座体上能装设至少两个芯片样品。此外，至少两个芯片样品分别通过第一电连接部和第二电连接部相连，第二电连接部与电路板电性连接，使得一个测试座能对至少两个芯片样品进行测试工作，测试效率得以提高，成本得以降低。

主权项：1.一种老化测试装置，其特征在于，所述老化测试装置包括测试座，还包括与所述测试座相连的电路板；所述测试座包括：座体，所述座体设有至少两个板面，每个所述板面上都设置有安装部，所述安装部用于放置待测样品，所述座体还设有第一插接部；第一电连接部，所述第一电连接部设置于所述安装部上，用于与所述待测样品电性连接；第二电连接部，用于与电路板电性连接，所述第二电连接部还与所述第一电连接部电性连接，所述第二电连接部设置于所述第一插接部上；以及压紧件，用于将所述待测样品固定于相应的所述安装部上，所述压紧件为压盖，所述压盖上形成有至少一个镂空口，所述压盖包括边框、第二抵接部及弹性连接件，所述第二抵接部设置于所述边框围合区域的中部，通过所述弹性连接件与所述边框相连，以在所述边框、所述第二抵接部及所述弹性连接件之间形成所述镂空口；其中，所述弹性连接件为至少两个，至少两个所述弹性连接件的一端与所述边框相连，至少两个所述弹性连接件的另一端与所述第二抵接部相连；所述电路板设有电压供应部、第三电连接部与第二插接部，所述电压供应部与所述第三电连接部电性连接，所述第三电连接部能够与所述第二电连接部电性连接，所述第二插接部与所述测试座的第一插接部插接相连；所述第三电连接部、所述第二插接部均设有多个，能够连接多个所述测试座。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长鑫存储技术有限公司 测试座、电路板、以及老化测试装置

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