申请/专利权人：宁波吉品科技有限公司

申请日：2024-01-18

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN117607663B

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28;G01R1/04

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.19#授权;2024.03.15#实质审查的生效;2024.02.27#公开

摘要：本发明公开了一种内置式探针负载测试平台，包括：底座；所述底座的上方设置有夹具，通过所述底座和所述夹具配合，对待测芯片进行夹持；所述底座的底部设置有第一同轴负载组件，所述夹具内部设置有第二同轴负载组件，所述第一同轴负载组件和所述第二同轴负载组件相对设置，对所述待测芯片的两侧端面进行检测；通过第一同轴负载组件和第二同轴负载组件对待测芯片进行定位检测，可以同时对待测芯片的两面进行检测，底座与夹具相配合，有较高的配合精度。

主权项：1.一种内置式探针负载测试平台，其特征在于，包括：底座（1）；所述底座（1）的上方设置有夹具（2），通过所述底座（1）和所述夹具（2）配合，对待测芯片（3）进行夹持；所述底座（1）的底部设置有第一同轴负载组件（4），所述夹具（2）内部设置有第二同轴负载组件（5），所述第一同轴负载组件（4）和所述第二同轴负载组件（5）相对设置，对所述待测芯片（3）的两侧端面进行检测；所述底座（1）的上方开设有容积槽，所述容积槽内侧设置有限位框（6），所述待测芯片（3）放置在所述限位框（6）中；所述第一同轴负载组件（4）包括壳体（41），通过所述壳体（41）安装有若干第一弹性探针（42），若干所述第一弹性探针（42）之间设置有屏蔽挡片（43）；所述壳体（41）上开设螺纹孔，与调节旋钮（44）配合，所述调节旋钮（44）一侧与所述第一弹性探针（42）接触，通过所述调节旋钮（44）调节所述第一弹性探针（42）伸出至所述容积槽的长度，同时调节与电阻（45）的配合尺寸，进行射频性能的调试，保障探针负载平台的成品率；在两个相邻的第一弹性探针（42）结构之间设置所述屏蔽挡片（43），对所述壳体（41）内侧的空气腔的切割，使得相邻两个相交的所述第一同轴负载组件（4）形成独立结构，实现小间距射频端口的隔离；所述夹具（2）的下方设置有压板（21），所述第二同轴负载组件（5）贯穿所述压板（21），与所述待测芯片（3）的上表面弹性接触；所述第二同轴负载组件（5）包括安装块（51），所述安装块（51）位于所述夹具（2）内侧，所述安装块（51）上设置有若干第二弹性探针（52），所述第二弹性探针（52）的最小排布间距为3.2mm。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 宁波吉品科技有限公司 一种内置式探针负载测试平台

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