申请/专利权人：中国电子科技集团公司第十一研究所

申请日：2021-11-08

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN114152457B

主分类号：G01M99/00

分类号：G01M99/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.19#授权;2022.03.25#实质审查的生效;2022.03.08#公开

摘要：本发明公开了一种提高精密伺服转台监控能力的方法及精密伺服转台，本发明通过对精密伺服转台的U型架的预设关键质量控制参数进行监控和测量，并基于监控和测量结果，对所述U型架进行综合分析和评价，以提高所述精密伺服转台监控能力，也即本发明是监控并分析U型架镗床的状态，以确定其精度是否满足加工产品的要求，进而提高精密伺服转台的监控能力。

主权项：1.一种提高精密伺服转台监控能力的方法，其特征在于，包括：对精密伺服转台的U型架的预设关键质量控制参数进行监控和测量；基于监控和测量结果，对所述U型架进行综合分析和评价，以提高所述精密伺服转台监控能力；其中，所述预设关键质量控制参数包括：所述U型架表面帧与帧之间图像拼接精度、轴系的倾角回转误差、轴系垂直误差、基准面的平整度、定位孔与基准面的垂直度、第一侧孔和第二侧孔的位置精度，以及所述第一侧孔和所述第二侧孔的孔端面与基准面的垂直度，所述基准面为以底座为基准的面；所述对精密伺服转台的U型架的预设关键质量控制参数进行监控和测量，包括：对所述U型架的基准面的粗糙度、所述基准面与所述定位孔的垂直度进行测量；工件装卡后尚未加工时，检查工件与台面的缝隙，当确定工件与台面的缝隙满足预设要求则进行下一步骤；以底座为基准，建立立体坐标系，检查所述第一侧孔和所述第二侧孔的位置精度，以及所述第一侧孔和所述第二侧孔的孔端面与基准面的垂直度；所述对精密伺服转台的U型架的预设关键质量控制参数进行监控和测量，包括：在所述基准面上建立立体坐标系XYZ，所述基准面即为所述立体坐标系的XY面，以所述定位孔的圆心作为立体坐标系的原点，在所述立体坐标系内对所述预设关键质量控制参数进行监控和测量；所述方法还包括：通过所述立体坐标系对机床的精度进行评价，以确保所述第一侧孔和所述第二侧孔的加工精度，且加工基准、装配基准以及测量基准均采用同一基准面；基准面的平面度≤0.015mm；定位孔与基准面的垂直度≤0.02mm；所述基于监控和测量结果，对所述U型架进行综合分析，包括：根据所述基准面的平面度数据，计算σ标准偏差判断机床主轴或刀杆刚性情况；根据所述定位孔与所述基准面的垂直度数据，计算σ标准偏差判断机床的精度；装卡后所述第一侧孔和所述第二侧孔与端面的垂直度，在与所述基准面加工的数据对比后，分析判断装卡的精度；基于所述第一侧孔和所述第二侧孔的位置精度直接分析评价零件的精度，是否达到预期的结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国电子科技集团公司第十一研究所 一种提高精密伺服转台监控能力的方法及精密伺服转台

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD