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【发明公布】基于电子全息术高精度测定微纳磁结构磁矩的方法_广西大学_202311497092.4 

申请/专利权人:广西大学

申请日:2023-11-10

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN117930096A

主分类号:G01R33/12

分类号:G01R33/12

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要:本发明公开了一种基于电子全息术高精度测定微纳磁结构磁矩的方法,包括以下步骤:S1在透射电子显微镜下观察试样,通过倾转样品的方法获得两张磁化翻转前后的电子全息图;S2在图像处理程序中,将步骤S1两张全息图重构出相位图,再对中相减,减半获得样品磁相位图;S3通过步骤S2获得的磁相位图进行圆环路积分拟合外推至零获取感应磁矩,再根据磁感应矩与磁矩之间的关系获得磁矩值。利用本发明的方法,可以实现微纳尺度高精度磁矩的定量测量。

主权项:1.一种基于电子全息术高精度测定微纳磁结构磁矩的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:在透射电子显微镜下观察试样,通过倾转样品的方法获得两张磁化翻转前后的电子全息图;S2:在图像处理程序中,将步骤S1两张全息图重构出相位图,再对中相减,减半获得样品磁相位图;S3:通过步骤S2获得的磁相位图进行圆环路积分拟合外推至零获取感应磁矩,再根据磁感应矩与磁矩之间的关系获得磁矩值。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 广西大学 基于电子全息术高精度测定微纳磁结构磁矩的方法

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