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【发明公布】一种太赫兹频段超宽带消色差超透镜及其制备方法_北京理工大学_202311527764.1 

申请/专利权人:北京理工大学

申请日:2023-11-16

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN117930396A

主分类号:G02B1/00

分类号:G02B1/00;G02B3/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.05.14#实质审查的生效;2024.04.26#公开

摘要:本发明涉及一种太赫兹频段超宽带消色差超透镜及其制备方法,具体是通过精心设计相位群延迟特性来控制超构透镜实现宽带消色差聚焦的方法,可以实现宽带1THz~2THz频段消色差聚焦,并对面向太赫兹成像系统的应用进行指导。利用硅基超表面在太赫兹频段低吸收损耗、相位灵活调控、高色散等优点,该超透镜实现了工作频段内以较高数值孔径、偏振不敏感聚焦,具有轻薄、聚焦效率高、鲁棒性高等特点,可运用于太赫兹时域成像或光谱检测系统中消色差聚焦元件设计。在目前太赫兹成像、检测技术不断发展前提下,本发明一种轻薄紧凑的太赫兹频段宽带高效消色差超透镜将具有广阔的应用前景。

主权项:1.一种太赫兹频段超宽带消色差超透镜,其特征在于:该消色差超透镜包括五种硅基微结构和硅基底;所述五种硅基微结构分别为正方形硅基微结构、圆形硅基微结构、圆环硅基微结构、方环硅基微结构、十字形硅基微结构;每种硅基微结构有若干个;所述硅基微结构在1THz~2THz频段满足基础相位与相位群延迟匹配条件,且硅基微结构通过刻蚀的方式位于硅基底的上表面并等间隔排列;所述每个硅基微结构满足旋转对称性;所述硅基微结构所对应相位满足下列关系: 其中,代表消色差超透镜聚焦相位,r代表超透镜径向长度,λ代表工作波长,F代表焦距;代表基础相位,λmax代表工作波长最大值;表示相位残差余项,ω代表角频率,R代表超透镜半径,GDr为相位群延迟。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京理工大学 一种太赫兹频段超宽带消色差超透镜及其制备方法

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