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【发明授权】一种上采样逆向分块映射方法_杭州电子科技大学_202111148518.6 

申请/专利权人:杭州电子科技大学

申请日:2021-09-29

公开(公告)日:2024-04-26

公开(公告)号:CN113887720B

主分类号:G06N3/082

分类号:G06N3/082;G06N3/04

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.26#授权;2022.01.21#实质审查的生效;2022.01.04#公开

摘要:本发明公开了一种上采样逆向分块映射方法,包括:S1,读取输入特征图数据并存放在移位缓存区中;S2,找出输出特征图分块中的像素点,映射在输入特征图中最相邻四个的像素点的位置;S3,采用流水线的方式,计算得到输出特征图的像素值,包括:S31,在垂直方向上,将最相邻的四个像素点与列方向的参数,进行一次乘法,得到的四个中间值再做加法,得到两个中间值;S32,将两个中间值,与行方向的参数,分别做乘法,得到两个中间值,再将两个中间值做一次加法,得到输出特征图的上采样后的像素点;S4,处理完一分块的数据后,返回S1,处理下一分块;S5,待输入特征图处理完后,根据寄存器指令继续处理下一张特征图。

主权项:1.一种上采样逆向分块映射方法,其特征在于包括如下步骤:S1,读取输入特征图数据并存放在移位缓存区中,根据输入特征图最相邻的四个像素点ram[0]、ram[1]、ram[W]、ram[W+1],生成输出特征图的分块;S2,找出输出特征图分块中的像素点,映射在输入特征图中最相邻四个的像素点的位置,输出特征图的每一分块中,不同像素点映射在输入特征图中的点,距离输入特征图中同一最相邻的四个像素点,在水平和垂直方向上,距离不同,其中h_param00、h_param01为行方向的参数,表示水平方向上的距离,v_param00、v_param01为列方向的参数,表示垂直方向上的距离;S3,将S1得到像素点的和S2得到的距离参数,采用流水线的方式,计算得到输出特征图的像素值,包括如下步骤:S31,在垂直方向上,将最相邻的四个像素点与列方向的参数v_param00和v_param01,进行一次乘法,得到的四个中间值再做加法,得到两个中间值;S32,将两个中间值,与行方向的参数h_param00和h_param01,分别做乘法,得到两个中间值,再将两个中间值做一次加法,得到输出特征图的上采样后的像素点;S4,处理完一分块的数据后,返回S1,处理下一分块;S5,待输入特征图处理完后,根据寄存器指令继续处理下一张特征图。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 杭州电子科技大学 一种上采样逆向分块映射方法

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