申请/专利权人：加特兰微电子科技(上海)有限公司

申请日：2022-10-28

公开（公告）日：2024-04-30

公开（公告）号：CN117949906A

主分类号：G01S7/40

分类号：G01S7/40;G01S7/41

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.17#实质审查的生效;2024.04.30#公开

摘要：本申请提供一种校准方法、校准系统、集成电路和无线电器件，涉及雷达技术领域。一种校准方法，应用于对雷达的天线阵列进行两维角度联合校准，包括：于第一角度维的校准后，沿所述第一角度维将所述天线阵列拟合为至少一个子阵；根据所述至少一个子阵在所述天线阵列的第二角度维的第一相位响应，以及所述至少一个子阵在所述第一角度维的第二相位响应，确定所述天线阵列的所述第一角度维的第一校准角；根据所述至少一个子阵在所述第一校准角下的第三相位响应以及所述第一相位响应，确定所述天线阵列的等效阵列；确定所述等效阵列在所述第二角度维的相位响应。根据本申请的实施例，可准确获得雷达天线阵列在任意位置的空间响应。

主权项：1.一种校准方法，其特征在于，应用于对雷达的天线阵列进行两维角度联合校准，所述校准方法包括：于第一角度维的校准后，沿所述第一角度维将所述天线阵列拟合为至少一个子阵；根据所述至少一个子阵在所述天线阵列的第二角度维下的第一相位响应，以及所述至少一个子阵在所述第一角度维的第二相位响应，确定所述天线阵列的所述第一角度维下的第一校准角；根据所述至少一个子阵在所述第一校准角下的第三相位响应以及所述第一相位响应，确定所述天线阵列的等效阵列；确定所述等效阵列在所述第二角度维下的相位响应。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 加特兰微电子科技(上海)有限公司 校准方法、校准系统、集成电路和无线电器件

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