申请/专利权人：中南大学

申请日：2024-01-22

公开（公告）日：2024-04-30

公开（公告）号：CN117949737A

主分类号：G01R27/26

分类号：G01R27/26

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.05.17#实质审查的生效;2024.04.30#公开

摘要：本发明公开了一种电容值估算方法，具体是涉及到一种基于扩展频谱时域反射的电容值估算方法及装置。该方法包括：向目标器件注入测试信号，所述测试信号基于伪随机编码生成；采集反射信号，所述反射信号为所述目标器件对所述测试信号进行反射得到的信号；对所述测试信号和所述反射信号进行互相关处理，得到互相关数据；基于所述互相关数据进行电容值估算，得到所述目标器件的电容值。本申请实施例无需对电路进行埋线即可实现电容值估算，提高了电容值估算的操作便捷性。

主权项：1.一种基于扩展频谱时域反射的电容值估算方法，其特征是，包括：向目标器件注入测试信号，所述测试信号基于伪随机编码生成；采集反射信号，所述反射信号为所述目标器件对所述测试信号进行反射得到的信号；对所述测试信号和所述反射信号进行互相关处理，得到互相关数据；基于所述互相关数据进行电容值估算，得到所述目标器件的电容值。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中南大学 基于扩展频谱时域反射的电容值估算方法及装置

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