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申请/专利权人：恩智浦有限公司
申请日：2023-11-16
公开（公告）日：2024-05-17
公开（公告）号：CN118051960A
主分类号：G06F21/76
分类号：G06F21/76;G06F21/62
优先权：["20221116 IN 202221065531"]
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.05.17#公开
摘要：本公开涉及集成电路中的安全系统的测试。一种集成电路包括安全资产、安全系统和功效解码器。所述安全系统被触发以在其功能状态中的一个功能状态中运行。此外，所述安全系统接收对所述安全资产的访问的各种测试请求，并且基于所述安全系统的已触发功能状态确定被授权访问所述安全资产的一个或多个测试请求。所述功效解码器类似地接收所述测试请求并针对所述安全系统的所述已触发功能状态确定一个或多个可允许请求。此外，所述功效解码器基于由所述安全系统授权的所述测试请求与所述已触发功能状态所关联的所述可允许请求之间的比较而确定所述安全系统的功效值。所述功效值指示所述安全系统在所述已触发功能状态中运行的安全等级。
主权项：1.一种集成电路IC，其特征在于，包括：安全资产；安全系统，其耦合到所述安全资产，并且被配置成i接收对所述安全资产的访问的多个测试请求，且ii基于所述安全系统的第一功能状态而从所述多个测试请求中确定被授权访问所述安全资产的一组测试请求；以及功效解码器，其耦合到所述安全系统，并且被配置成确定与所述第一功能状态相关联的一组可允许请求，且基于所述一组测试请求与所述一组可允许请求之间的比较而确定所述安全系统的功效值，其中所述功效值指示所述安全系统在所述第一功能状态中运行的安全等级。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 恩智浦有限公司 集成电路中的安全系统的测试
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