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申请/专利权人：美国国家仪器有限公司
申请日：2019-05-14
公开（公告）日：2024-05-17
公开（公告）号：CN112154331B
主分类号：G01R1/04
分类号：G01R1/04;G01R31/28;G01R31/302;G01R21/12
优先权：["20180521 US 62/674,455","20181023 US 16/168,650"]
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.05.17#授权;2021.04.23#实质审查的生效;2020.12.29#公开
摘要：测试例如具有集成天线的集成电路IC的装置，所述集成天线被配置用于毫米波mmW传输和或接收。DUT可安装到测量夹具例如，插座、消声室等中的接口。所述DUT的电源连接和数据连接可以通过所述接口进行测试，所述接口还可以为输入输出信号、电源和控制提供连接例如，有线连接并且还可以提供定位。可使用所述DUT的天线的辐射菲涅耳区中的天线阵列或探针阵列在空中测试所述DUT的射频RF特性。所述阵列的所述天线或探针中的每一个可以包括功率检测器例如，二极管，使得可以使用DC电压测量来测量RF辐射图案。可以将所测量的电压测量值与例如根据理想或模型DUT预期的电压测量值等理想特征值进行比较。
主权项：1.一种内置天线测试系统BATS，其包含：处理元件；测量夹具；接口，其中所述接口被配置成将被测装置DUT定位在所述测量夹具内，其中所述接口向所述DUT提供电源连接和数据连接；以及天线阵列，其中所述天线阵列在所述测量夹具内并且在相对于所述DUT的近场边界和远场边界之间的过渡区内，其中所述近场边界和所述远场边界取决于DUT天线阵列的传输频率和大小，其中所述天线阵列被配置成测试由所述DUT传输的波束成形的信号的射频RF特性，其中所述天线阵列的每一相应天线连接到相应二极管检测器，其中每一二极管检测器将场强的测量值转换为相应直流DC电压测量值，其中多个相应DC电压测量值包括DC电压测量值的测量图案，其中所述BATS被配置成将所述DC电压测量值的测量图案与和DC电压测量值的预期图案相关联的场图案特征值进行比较，其中所述比较能够用于所述DUT的生产测试或筛选。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 美国国家仪器有限公司 具有集成天线的毫米波集成电路的空中测试
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