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申请/专利权人：深圳市共进电子股份有限公司
申请日：2018-12-28
公开（公告）日：2024-05-17
公开（公告）号：CN111382036B
主分类号：G06F11/34
分类号：G06F11/34
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.05.17#授权;2020.07.31#实质审查的生效;2020.07.07#公开
摘要：本发明属于芯片技术领域，公开了一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，包括：获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率；计算所述时钟频率对应的DDR数据时钟；根据所述DDR数据时钟查询DDR数据表，获得与所述DDR时钟匹配的测试标准指标；其中，所述DDR数据表用于存储多个常规DDR数据时钟，以及与每个常规DDR数据时钟对应的测试标准指标；生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告。相应的，本发明还公开了一种自动生成DDR芯片测试标准报告的系统。实施本发明，可以规避之前人工手动查找测试标准的所有弊端，报告质量较好，成本较低，可以适用于所有研发阶段的DDR芯片测试标准的查找。
主权项：1.一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法，其特征在于，包括，获取用户输入的所述测试DDR芯片的DDR等级；在预先配置的DDR数据库中查找与所述DDR等级对应的DDR数据表；其中，所述DDR数据库包括多个DDR等级对应的DDR数据表；获取测试DDR芯片实际应用的时钟频率；计算所述时钟频率对应的DDR数据时钟；根据所述DDR数据时钟查询DDR数据表，获得与所述DDR时钟匹配的测试标准指标；其中，所述DDR数据表用于存储多个常规DDR数据时钟，以及与每个常规DDR数据时钟对应的测试标准指标；如果在所述DDR数据表中查找不到与所述DDR数据时钟一致的常规DDR数据时钟，则在所述DDR数据表中查找临近DDR数据时钟，获得与所述临近DDR数据时钟匹配的测试标准指标；生成包含所述测试标准指标的DDR芯片测试标准报告；所述临近DDR数据时钟，具体为存储于所述DDR数据表中、大于所述数据时钟、且最接近所述数据时钟的常规数据时钟。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳市共进电子股份有限公司 一种自动生成DDR芯片测试标准报告的方法及系统
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