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申请/专利权人：美光科技公司
申请日：2022-01-28
公开（公告）日：2024-05-17
公开（公告）号：CN114911722B
主分类号：G06F13/16
分类号：G06F13/16;G11C16/34;G06F3/06
优先权：["20210209 US 63/147,679","20220112 US 17/574,024"]
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.05.17#授权;2022.09.02#实质审查的生效;2022.08.16#公开
摘要：本申请涉及存储器系统中的基于拓扑的弃用。在一些实例中，存储器系统或存储器装置可配置成评估关于存储器阵列的物理或电气组织的错误条件，其可支持推断存储器装置的一或多个结构中是否存在缺陷。举例来说，基于检测到的错误的各种评估，存储器系统或存储器装置可能够推断可与随时间推移而磨损或劣化相关的存储器阵列的短路、开路、介质击穿或其它缺陷的存在，且基于此类推断弃用存储器阵列的一部分。
主权项：1.一种存储器系统，其包括：一或多个存储器装置，其包括存储器单元块；以及处理电路系统，其与所述一或多个存储器装置耦合且配置成使所述存储器系统进行以下操作：确定所述存储器单元块的第一子块的第一存取错误量；确定所述存储器单元块的第二子块的第二存取错误量；以及至少部分地基于所述第一存取错误量与所述第二存取错误量之间的差满足阈值而弃用所述存储器单元块。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 美光科技公司 存储器系统中的基于拓扑的弃用
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