申请/专利权人：无锡晶哲科技有限公司

申请日：2023-09-22

公开（公告）日：2024-05-17

公开（公告）号：CN220983430U

主分类号：G01R31/28

分类号：G01R31/28

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.05.17#授权

摘要：本实用新型提供一种芯片端口特性测试电路结构，包括主控单元、驱动单元和显示单元，所述驱动单元分别与所述主控单元和所述显示单元相连。一种芯片端口特性测试电路结构，通过对电容的充电和放电，让待测芯片的端口电压缓慢上升和下降，利用简单的器件实现精准测量端口的翻转电压，可以节省端口特性测试时间。

主权项：1.一种芯片端口特性测试电路结构，其特征在于：包括主控单元、驱动单元和显示单元，所述驱动单元分别与所述主控单元和所述显示单元相连，所述主控单元包括主控芯片U2、按键KEY、电容C1、电容C2和电阻R1，所述主控芯片U2的引脚1分别连接VCC和所述电容C2的一端，所述主控芯片U2的引脚8分别连接GND和所述电容C2的另一端，所述主控芯片U2的引脚4串联所述按键KEY后接GND，所述主控芯片U2的引脚7为待测芯片连接口P1，所述待测芯片连接口P1连接待测芯片U1的输出端口，所述主控芯片U2的引脚6连接所述电阻R1的一端，所述主控芯片U2的引脚5和所述电阻R1的另一端分别连接所述电容C1的一端和待测芯片连接口P2，所述待测芯片连接口P2连接所述待测芯片U1的输入端口，所述驱动单元包括驱动芯片U4和电容C3，所述驱动芯片U4的引脚4分别连接GND和所述电容C3的一端，所述驱动芯片U4的引脚10分别连接VCC和所述电容C3的另一端，所述显示单元包括数码管U3，所述驱动芯片U4的引脚8连接所述数码管U3的引脚11，所述驱动芯片U4的引脚9连接所述数码管U3的引脚7，所述驱动芯片U4的引脚11连接所述数码管U3的引脚4，所述驱动芯片U4的引脚12连接所述数码管U3的引脚2，所述驱动芯片U4的引脚13连接所述数码管U3的引脚1，所述驱动芯片U4的引脚14连接所述数码管U3的引脚10，所述驱动芯片U4的引脚15连接所述数码管U3的引脚5，所述驱动芯片U4的引脚16连接所述数码管U3的引脚3，所述驱动芯片U4的引脚1连接所述数码管U3的引脚12，所述驱动芯片U4的引脚5连接所述数码管U3的引脚9，所述驱动芯片U4的引脚6连接所述数码管U3的引脚8，所述驱动芯片U4的引脚7连接所述数码管U3的引脚6，所述主控芯片U2的引脚2连接所述驱动芯片U4的引脚2，所述主控芯片U2的引脚3连接所述驱动芯片U4的引脚3。

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权利要求：

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