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申请/专利权人：河北光兴半导体技术有限公司;北京盛达众安科技有限公司
申请日：2023-10-24
公开（公告）日：2024-05-17
公开（公告）号：CN220983035U
主分类号：G01N15/0205
分类号：G01N15/0205;G01N23/2251;B01D29/085
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.05.17#授权
摘要：本实用新型涉及检测领域，公开了一种MLCC镍浆检测系统，包括依次连接的镍浆稀释单元、抽滤单元和颗粒分析单元，镍浆稀释单元用于稀释镍浆样品以得到稀释后的镍浆样品，抽滤单元用于对稀释后的镍浆样品进行抽滤处理以得到含镍滤膜，颗粒分析单元用于检测含镍滤膜上的镍残留颗粒的粒径范围。通过本实用新型提供的MLCC镍浆检测系统，能够简便直观地检测镍浆中是否存在颗粒直径大于d1的大颗粒或团聚物，能够有效解决因镍浆中存在颗粒直径大于d1的大颗粒或团聚物而造成的次品率高的问题，还能够避免镍浆原料和后续生产投入的浪费，具有较大的实用价值和较高的经济价值。
主权项：1.一种MLCC镍浆检测系统，其特征在于，包括依次连接的镍浆稀释单元2、抽滤单元3和颗粒分析单元5；所述镍浆稀释单元2用于稀释镍浆样品以得到稀释后的镍浆样品；所述抽滤单元3包括由上至下连通设置的镍浆导流器31和滤瓶32，以及与所述滤瓶32连接的抽真空装置34，所述镍浆导流器31和所述滤瓶32的连接处设有滤膜33，所述镍浆的颗粒直径设计值为d0，所述滤膜33的孔径为d1，d1：d0＝1-5：1；所述抽滤单元3用于对所述稀释后的镍浆样品进行抽滤处理以得到含镍滤膜；所述颗粒分析单元5用于检测所述含镍滤膜上的镍残留颗粒的粒径范围。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 河北光兴半导体技术有限公司;北京盛达众安科技有限公司 MLCC镍浆检测系统
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