申请/专利权人：长春理工大学

申请日：2012-11-16

公开（公告）日：2013-03-20

公开（公告）号：CN102980667A

主分类号：G01J9/00(2006.01)I

分类号：G01J9/00(2006.01)I;G01J1/00(2006.01)I

优先权：

专利状态码：失效-发明专利申请公布后的视为撤回

法律状态：2016.03.16#发明专利申请公布后的视为撤回;2013.04.17#实质审查的生效;2013.03.20#公开

摘要：基于ENZ理论的激光光束检测装置及方法属于激光技术领域。现有技术操作步骤繁琐、检测精度低、分辨率难以提高、信噪比低、成本高。本发明之装置CCD探测器与数据处理计算机相连，成像透镜位于CCD探测器前方，CCD探测器感光面与成像透镜焦平面c平行；CCD探测器固定在滑块上，滑块与导轨构成导轨滑块机构。本发明之方法取成像透镜焦平面c处及对称的前、后离焦面a、b处的被检激光光束光斑强度图像，采用ENZ多项式构造波前拟合系数求取方程组，求解该方程组得到拟合光瞳平面激光光束波前的复数波前拟合系数值，通过迭代算法，去除高阶误差，得到精确的波前拟合系数值，从而得到光瞳平面激光光束的相位和振幅，拟合波前；再根据相位信息、强度信息，通过矩法计算特征值。

主权项：一种基于ENZ理论的激光光束检测装置，CCD探测器（1）与数据处理计算机（2）相连，其特征在于，成像透镜（3）位于CCD探测器（1）前方，CCD探测器感光面（4）与成像透镜（3）焦平面c平行；CCD探测器（1）固定在滑块（5）上，滑块（5）与导轨（6）构成导轨滑块机构。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 长春理工大学 基于ENZ理论的激光光束检测装置及方法

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