【发明授权】一种组串的PID衰减的检测方法_中国华电科工集团有限公司;华电中光新能源技术有限公司_201710770524.2 

申请/专利权人:中国华电科工集团有限公司;华电中光新能源技术有限公司

申请日:2017-09-01

发明/设计人:张廷军;高峰;李艳红

公开(公告)日:2020-03-31

代理机构:北京联创佳为专利事务所(普通合伙)

公开(公告)号:CN107508549B

代理人:郭防

主分类号:H02S50/10(20140101)

地址:100160 北京市丰台区汽车博物馆东路6号院1号楼

分类号:H02S50/10(20140101)

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2020.03.31#授权;2018.02.16#实质审查的生效;2017.12.22#公开

摘要:本发明公开了一种组串的PID衰减的检测方法,包括:逆变器在一辐照条件下启动子阵级的IV扫描,并收集子阵中每一组串的开路电压和太阳能电池组件的组件温度;对于每一组串,利用组件开压温度系数和实测的组件温度校准实际测得的组串的开路电压以得到校准开路电压;根据二极管模型计算该辐照条件下无PID衰减的组串的理论开路电压;计算每一组串的校准开路电压与理论开路电压的比值;将子阵中的每一组串的该比值均与一第一阈值比较,得到比值小于该第一阈值的组串的数量,若该数量大于一第二阈值,则该子阵存在PID衰减。本发明的检测方法误判性低、操作容易、计算简便且具有较高准确性。

主权项:1.一种组串的PID衰减的检测方法,该组串为太阳能电池组件串并联得到的结构,其特征在于,包括以下步骤:S1:逆变器在一辐照条件下启动子阵级的IV扫描,并收集子阵中每一组串的开路电压和太阳能电池组件的组件温度,其中子阵包括多个组串串联的方阵;子阵的辐照强度为100Wm2以下;S2:对于每一组串,利用组件开压温度系数和实测的组件温度校准实际测得的组串的开路电压以得到校准开路电压;其中,通过以下公式得到校准开路电压: 其中为校准开路电压,为测试所得的组串开路电压,T为实测的组件温度,α为组件开压温度系数;S3:对于每一组串,根据二极管模型计算该辐照条件下无PID衰减的组串的理论开路电压;其中,通过以下公式得到理论开路电压: 其中n为组件理想因子,k为玻尔兹曼常数,q为电荷常数,IL为组件光生电流,I0为组件二极管饱和电流;S4:计算每一组串的校准开路电压与理论开路电压的比值;S5:将子阵中的每一组串的该比值均与一第一阈值比较,得到比值小于该第一阈值的组串的数量,若该数量大于一第二阈值,则该子阵存在PID衰减。

全文数据:

权利要求:

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