申请/专利权人：光远科技股份有限公司

申请日：2018-12-26

公开（公告）日：2020-07-03

公开（公告）号：CN111369922A

主分类号：G09G3/00(20060101)

分类号：G09G3/00(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.01.09#授权;2020.07.28#实质审查的生效;2020.07.03#公开

摘要：本发明提出一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元中的第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，包含以下步骤。分别设定第一发光二极管与第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线。提供第三发光二极管，接收关联于第一发光二极管与第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流。提供第一发光二极管，接收关联于第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流。依据第一光感应电流、第二光感应电流以及第三光感应电流，计算各个发光二极管的衰减程度。

主权项：1.一种发光单元的测试方法，用以检测发光单元，该发光单元至少具有第一发光二极管、第二发光二极管以及第三发光二极管，其特征在于，所述测试方法包含：设定所述第一发光二极管于驱动状态，据以产生关联于所述第一发光二极管的光线；设定所述第二发光二极管于驱动状态，据以产生关联于所述第二发光二极管的光线；提供所述第三发光二极管，接收关联于所述第一发光二极管的光线以及关联于所述第二发光二极管的光线，据以产生第一光感应电流以及第二光感应电流；提供所述第一发光二极管，接收关联于所述第二发光二极管的光线，据以产生第三光感应电流；以及依据所述第一光感应电流、所述第二光感应电流以及所述第三光感应电流，计算所述第一发光二极管、所述第二发光二极管以及所述第三发光二极管的衰减程度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 光远科技股份有限公司 发光单元的测试方法

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