申请/专利权人：矿冶科技集团有限公司

申请日：2020-08-27

公开（公告）日：2020-11-24

公开（公告）号：CN111982948A

主分类号：G01N23/2202(20180101)

分类号：G01N23/2202(20180101)

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2020.12.11#实质审查的生效;2020.11.24#公开

摘要：本发明提供一种微米级粉体的扫描电镜截面样品的制备方法，涉及扫描电镜制样领域。微米级粉体的扫描电镜截面样品的制备方法，包括：将预制样的粉体和包埋剂混合得到胶粉混合体，然后将所述胶粉混合体涂覆至无磁性金属片上进行固化；对固化后的所述胶粉混合体依次进行平磨抛光和离子减薄得到精抛截面样品即可。本申请提供的微米级粉体的扫描电镜截面样品的制备方法，可以实现包埋粉体样品制备方便且耐离子束轰击、包埋样品在尺寸上可方便快速直接适用离子减薄样品台联用、最终样品磨抛截面平整光滑无应力、无污染，可供扫描电镜高分辨观察。

主权项：1.一种微米级粉体的扫描电镜截面样品的制备方法，其特征在于，包括：将预制样的粉体和包埋剂混合得到胶粉混合体，然后将所述胶粉混合体涂覆至无磁性金属片上进行固化；对固化后的所述胶粉混合体依次进行平磨抛光和离子减薄得到精抛截面样品即可。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 矿冶科技集团有限公司 微米级粉体的扫描电镜截面样品的制备方法

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