申请/专利权人：中车青岛四方机车车辆股份有限公司

申请日：2018-04-20

公开（公告）日：2021-02-09

公开（公告）号：CN108613736B

主分类号：G01H17/00(20060101)

分类号：G01H17/00(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.02.09#授权;2018.10.30#实质审查的生效;2018.10.02#公开

摘要：本发明实施例提供一种阻尼损失因子测试方法、装置和系统。所述方法包括：根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。通过本发明实施例提供的测试方案，能够实现待测部件在不同频带内的阻尼损失因子的测试，且保障测试准确度。

主权项：1.一种阻尼损失因子测试方法，其特征在于，包括：根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子；所述根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，包括：获取所述敲击测试响应信号中的衰减信号段在各频带各自对应的衰减曲线；针对每个频带，确定该频带对应的衰减曲线的下降斜率；针对每个频带，根据该频带对应的衰减曲线的下降斜率，计算所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间；所述根据该频带对应的衰减曲线的下降斜率，计算所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间，包括：根据如下公式2，计算频带Ffc对应的目标衰减分贝b的衰减时间Tbfc：Tbfc＝b-Kfc公式2其中，Kfc表示频带Ffc对应的衰减曲线的下降斜率，fc为频带Ffc的中心频率；所述确定该频带对应的衰减曲线的下降斜率，包括：选取该频带的敲击响应信号中的衰减信号段中幅值衰减第一衰减分贝的位置为起点位置；选取比所述起点位置的幅值衰减第二衰减分贝的位置为终点位置；根据所述起点位置和所述终点位置从所述衰减信号段中截取目标衰减段；根据截取的目标衰减段中各采样点各自对应的时间和幅值，计算该频带对应的衰减曲线的下降斜率；其中，根据频带的敲击响应信号的尾部设定时间段的信号的幅值，计算本底大小；将终点位置对应的采样点的幅值与本底大小进行比较，若终点位置对应的采样点的幅值大于本底大小预设分贝，则确定选取的终点位置有效；所述根据截取的目标衰减段中各采样点各自对应的时间和幅值，计算该频带对应的衰减曲线的下降斜率，包括：根据如下公式1，计算频带Ffc对应的衰减曲线的下降斜率Kfc： 其中，Xi为第i个采样点对应的时间，Yi为第i个采样点对应的幅值；n为所述目标衰减段中的采样点总数；i为取值1到n的整数，n为大于1的整数；所述待测部件的敲击测试响应信号为多个；所述根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，包括：针对所述待测部件的每个敲击测试响应信号，确定所述待测部件的该敲击测试响应信号在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；针对每个频带，计算所述待测部件的所有敲击测试响应信号在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间的平均值，并作为所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。

全文数据：阻尼损失因子测试方法、装置和系统技术领域[0001]本发明实施例涉及振动测试技术领域，尤其涉及一种阻尼损失因子测试方法、装置和系统。背景技术[0002]阻尼损失因子是衡量系统的阻尼特性并决定其振动能量耗散能力的重要参数。结构振动的阻尼损失因子在每个频率上是不同的。[0003]目前现有可通过模态曲线拟合方法和稳态能量流方法来测试部件的阻尼损失因子。其中，模态曲线拟合方法适用于模态密度分离较好的低频区域，稳态能量流方法适用于模态密度较大，可认为每个频带内模态能量平均的情况。[0004]然而，结构振动的阻尼损失因子在每个频率上是不同的，且对于结构复杂的部件比如，高铁车身），在低频范围内模态密度很小，各个模态在频带内分离非常好，可通过模态曲线拟合方法来测试阻尼损失因子。然而，在高频范围内随着模态密度和带宽的宽度增加，结构的共振模态开始变得非常密集，这时在频带内的模态就不能很好的分离，而且，结构复杂的部件在每个频带内模态能量并不是平均分布的。因此，若通过现有的模态曲线拟合方法和稳态能量流方法来测试，测试结果的准确度较低。发明内容[0005]针对现有技术中的缺陷，本发明实施例提供一种阻尼损失因子测试方法、装置和系统，能够实现待测部件在不同频带内的阻尼损失因子的测试，且保障测试准确度。[0006]—方面，本发明实施例提供一种阻尼损失因子测试方法，包括：[0007]根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；[0008]根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。[0009]另一方面，本发明实施例提供一种阻尼损失因子测试装置，包括：[0010]频带衰减时间确定单元，用于根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；[0011]阻尼损失因子确定单元，用于根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。[0012]又一方面，本发明实施例提供一种阻尼损失因子测试系统，包括:如上述的阻尼损失因子测试装置、力锤和敲击测试响应信号采集器;其中，所述力锤用于对待测部件进行敲击测试；[0013]所述敲击测试响应信号采集器用于采集所述待测部件的敲击测试响应信号，并输出至所述阻尼损失因子测试装置。[0014]本发明实施例提供的阻尼损失因子测试方法、装置和系统，通过根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。这样，通过响应信号在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间来反应不同频带内的阻尼损失因子，可保障部件的阻尼损失因子的测试准确度。附图说明[0015]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。[0016]图1示出了根据本发明一实施例的阻尼损失因子测试系统的结构示意图；[0017]图2示出了根据本发明一实施例的阻尼损失因子测试方法的示例性流程图；[0018]图3示出了根据本发明一实施例的阻尼损失因子测试装置的结构示意图；[0019]图4示出了根据本发明一实施例的电子设备的实体结构示意图。具体实施方式[0020]以下将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施例，都属于本发明所保护的范围。[0021]本申请使用的“模块”、“装置”等术语旨在包括与计算机相关的实体，例如但不限于硬件、固件、软硬件组合、软件或者执行中的软件。例如，模块可以是，但并不仅限于:处理器上运行的进程、处理器、对象、可执行程序、执行的线程、程序和或计算机。举例来说，计算设备上运行的应用程序和此计算设备都可以是模块。一个或多个模块可以位于执行中的一个进程和或线程内，一个模块也可以位于一台计算机上和或分布于两台或更多台计算机之间。[0022]下面结合附图详细说明本发明的技术方案。[0023]参考图1，其示出了根据本发明一实施例的阻尼损失因子测试系统的结构示意图。[0024]如图1所示，本发明实施例提供的阻尼损失因子测试系统，可以包括:力锤101、敲击测试响应信号采集器102和阻尼损失因子测试装置103。[0025]其中，力锤101用于对待测部件进行敲击测试。[0026]敲击测试响应信号采集器102用于采集待测部件的敲击测试响应信号，并输出至阻尼损失因子测试装置103。[0027]阻尼损失因子测试装置103用于根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间;根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。[0028]实际应用中，力锤可以泛指能够实现对待测部件进行敲击测试，引起待测部件的振动的装置。[0029]实际应用中，在待测部件可预先设置测试点，将敲击测试响应信号采集器102设置于测试点上。通过力锤101在测试点周围进行敲击测试。[0030]可选地，本发明实施例中，待测部件上可预先设置一个或多个测试点。通过力锤101和敲击测试响应信号采集器102来采集待测部件的不同测试点的敲击测试响应信号。[0031]可选地，阻尼损失因子测试系统可以包括一个或多个敲击测试响应信号采集器102。通过多个敲击测试响应信号采集器102分别采集多个测试点上的敲击测试响应信号。[0032]相应地，所述待测部件的敲击测试响应信号为多个的情况下，阻尼损失因子测试装置103具体用于针对所述待测部件的每个敲击测试响应信号，确定所述待测部件的该敲击测试响应信号在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；针对每个频带，计算所述待测部件的所有敲击测试响应信号在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间的平均值，并作为所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0033]可选地，本发明实施例中，所述敲击测试响应信号采集器102可以具体为加速度计。[0034]可选地，本发明实施例中，可以通过多通道数据采集设备将敲击测试响应信号采集器102采集的敲击测试响应信号传输至阻尼损失因子测试装置103。[0035]可选地，多通道数据采集设备可以连接力锤101与至少一个敲击测试响应信号采集器102,其中，力锤101与至少一个敲击测试响应信号采集器102分别接入不同的数据采集通道。[0036]可选地，多通道数据采集设备还可以将力锤101敲击待测部件时的输出力度传输至阻尼损失因子测试装置103,由阻尼损失因子测试装置103确定力锤101的本次敲击是否有效。[0037]相应地，阻尼损失因子测试装置103基于有效敲击对应的敲击测试响应信号进行阻尼损失因子测试。其中，待测部件的敲击测试响应信号的个数由待测部件上的测试点的个数，以及每个测试点上的有效敲击次数决定。例如，测试点为3个，每个测试点上的有效敲击次数为3时，阻尼损失因子测试装置103可获取9个待测部件的敲击测试响应信号。[0038]关于敲击的有效性判断方案可由本领域技术人员根据实际需求预先配置。[0039]参考图2,其示出了根据本发明一实施例的阻尼损失因子测试方法的示例性流程图。所述阻尼损失因子测试方法适用于阻尼损失因子测试装置103。[0040]如图2所示，本发明实施例提供的一种阻尼损失因子测试方法，可以包括如下步骤：[0041]S210:根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0042]实际应用中，通过力锤101对待测部件进行有效敲击之后，阻尼损失因子测试装置103可以接收本次有效敲击对应的敲击测试响应信号。[0043]在考虑阻尼损失因子时一般考虑50Hz到10000Hz的频率内的阻尼损失因子。因此，本发明实施例中，可以预先设置多个频带，并确定每个频带的中心频率。[0044]进一步地，为了准确测试阻尼损失因子，本领域技术人员可以根据经验预先设置目标衰减分贝。例如，可以将目标衰减分贝设置为60dB。[0045]这样，阻尼损失因子测试装置103获取待测部件的敲击测试响应信号之后，可以对敲击测试响应信号进行频带滤波，得到每个预设的频带的敲击响应信号。继而，针对每一频带，根据该频带的敲击响应信号，确定该频带的敲击响应信号衰减目标衰减分贝的时间，BP待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0046]关于敲击响应信号衰减目标衰减分贝的时间可以根据本领域技术人员常用的技术手段来进行，此处不再赘述。[0047]S220:根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。[0048]本发明实施例中，阻尼损失因子测试装置103通过步骤S210确定待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间之后，可以针对每一频带，根据待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定待测部件在该频带内的阻尼损失因子。[0049]本发明实施例提供的阻尼损失因子测试方法，通过通过根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。这样，通过敲击测试响应信号在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间来反应不同频带内的阻尼损失因子，可保障部件的阻尼损失因子的测试准确度。[0050]进一步地，在上述实施例的基础上，本发明又一实施例提供的阻尼损失因子测试方法中，所述待测部件的敲击测试响应信号为多个;所述根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，包括：[0051]针对所述待测部件的每个敲击测试响应信号，确定所述待测部件的该敲击测试响应信号在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；[0052]针对每个频带，计算所述待测部件的所有敲击测试响应信号在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间的平均值，并作为所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0053]实际应用中，在待测部件上的测试点为多个，和或测试点的有效敲击次数为多次的情况下，阻尼损失因子测试装置103可获取待测部件的多个敲击测试响应信号。[0054]本发明实施例中，阻尼损失因子测试装置103可以针对待测部件的每个敲击测试响应信号，确定待测部件的该敲击测试响应信号在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0055]继而，阻尼损失因子测试装置103可以针对每一频带，统计待测部件的所有敲击测试响应信号在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间的平均值，并作为待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0056]本发明实施例其他步骤与前述实施例步骤相似，本发明实施例不再赘述。[0057]本发明实施例提供的阻尼损失因子测试方法，通过待测部件的多个敲击测试响应信号来进行确定待测部件在各频带对应的目标衰减分贝的衰减时间，提高了确定出的衰减时间的准确度，从而提高阻尼损失因子的测试准确度。[0058]在上述实施例的基础上，本发明又一实施例提供的阻尼损失因子测试方法中，所述根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，包括：[0059]获取所述敲击测试响应信号中的衰减信号段在各频带各自对应的衰减曲线；[0060]针对每个频带，确定该频带对应的衰减曲线的下降斜率；[0061]针对每个频带，根据该频带对应的衰减曲线的下降斜率，计算所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0062]本发明实施例中，阻尼损失因子测试装置103可以首先确定截取出敲击测试响应信号中的衰减信号段;继而，获取敲击测试响应信号中的衰减信号段在各频带各自对应的衰减曲线。[0063]接着，针对每个频带，阻尼损失因子测试装置103可以根据该频带对应的衰减曲线中各采样点对应的时间和幅值，确定该频带对应的衰减曲线的下降斜率。继而，阻尼损失因子测试装置103可以根据确定出的下降斜率来计算待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0064]具体地，阻尼损失因子测试装置103可以根据如下方式获取所述敲击测试响应信号中的衰减信号段在各频带各自对应的衰减曲线：[0065]对所述敲击测试响应信号进行频带滤波，得到每个频带的敲击响应信号；截取各频带的敲击响应信号中的衰减信号段;对各频带的所述衰减信号段进行数据处理，得到各频带各自对应的衰减曲线。[0066]其中，所述数据处理包括:平方、反向积分和取对数。[0067]接着，阻尼损失因子测试装置103可以针对每个频带，根据如下方式确定该频带对应的衰减曲线的下降斜率：[0068]选取该频带的敲击响应信号中的衰减信号段中幅值衰减第一衰减分贝的位置为起点位置;选取比所述起点位置的幅值衰减第二衰减分贝的位置为终点位置;根据所述起点位置和所述终点位置从所述衰减信号段中截取目标衰减段;根据截取的目标衰减段中各采样点各自对应的时间和幅值，计算该频带对应的衰减曲线的下降斜率。[0069]其中，第一衰减分贝和第二衰减分贝由本领域技术人员根据经验进行设置，例如，第一衰减分贝设置为IdB;第二衰减分贝设置为IOdB。[0070]可选地，本发明实施例中，阻尼损失因子测试装置103可以根据频带的敲击响应信号的尾部设定时间段的信号的幅值，计算本底大小。将终点位置对应的采样点的幅值与本底大小进行比较，若终点位置对应的采样点的幅值大于本底大小预设分贝，则可以确定选取的终点位置有效。这样，后续可以根据起点位置和有效的终点位置来计算衰减曲线的下降斜率。[0071]本发明实施例中，阻尼损失因子测试装置103可以针对每一频带，根据如下方式计算该频带对应的衰减曲线的下降斜率：[0072]根据如下公式1，计算频带Ff。对应的衰减曲线的下降斜率Kf。）：[0073][0074]其中，X1为第i个采样点对应的时间,Y1为第i个采样点对应的幅值;η为所述目标衰减段中的采样点总数;i为取值1到η的整数，η为大于1的整数。[0075]本发明实施例中，阻尼损失因子测试装置103可以针对每个频带根据如下方式计算所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间：[0076]根据如下公式2,计算频带Ff。对应的目标衰减分贝b的衰减时间Tbf。）：[0077]Tbfc=b-Kfc公式2[0078]其中，Kf。表示频带Ff。对应的衰减曲线的下降斜率，f。为频带Ff。）的中心频率。[0079]本发明实施例其他步骤与前述实施例步骤相似，本发明实施例不再赘述。[0080]本发明实施例提供的阻尼损失因子测试方法，通过确定待测部件的敲击测试响应信号在不同频带的衰减曲线的下降斜率，通过衰减曲线的下降斜率来准确计算待测部件在不同频带对应的目标衰减分贝的衰减时间，保障了后续基于衰减时间确定的阻尼损失因子的准确度。[0081]进一步地，在上述实施例的基础上，本发明又一实施例提供的阻尼损失因子测试方法中，所述根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子，包括：[0082]根据如下公式3,确定所述待测部件在频带Ff。）内的阻尼损失因子DLFf。）：[0083]DLFfc=2.2fcXTbfc公式3[0084]其中，Tbf。为待测部件在频带Ff。对应的目标衰减分贝b的衰减时间；f。为频带Ff。的中心频率。[0085]本发明实施例中，阻尼损失因子测试装置103可以针对每个频带，根据待测部件在该频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，通过上述公式3确定待测部件在该频带内的阻尼损失因子。[0086]本发明实施例其他步骤与前述实施例步骤相似，本发明实施例不再赘述。[0087]本发明实施例提供的阻尼损失因子测试方法，通过引入DLFDampingLossFactor，阻尼损失因子计算算法准确计算待测部件在不同频带内的阻尼损失因子，保障了阻尼损失因子的测试准确度。[0088]在上述各实施例的基础上，本发明又一实施例提供了一种阻尼损失因子测试装置。[0089]参考图3,其示出了根据本发明一实施例的阻尼损失因子测试装置的结构示意图。[0090]如图3所示，本发明实施例提供的阻尼损失因子测试装置300可以包括:频带衰减时间确定单元301和阻尼损失因子确定单元302。[0091]其中，频带衰减时间确定单元301用于根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0092]阻尼损失因子确定单元302用于根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。[0093]可选地，频带衰减时间确定单元301具体用于获取所述敲击测试响应信号中的衰减信号段在各频带各自对应的衰减曲线;针对每个频带，确定该频带对应的衰减曲线的下降斜率;针对每个频带，根据该频带对应的衰减曲线的下降斜率，计算所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0094]可选地，频带衰减时间确定单元301具体用于对所述敲击测试响应信号进行频带滤波，得到每个频带的敲击响应信号;截取各频带的敲击响应信号中的衰减信号段;对各频带的所述衰减信号段进行数据处理，得到各频带各自对应的衰减曲线;其中，所述数据处理包括:平方、反向积分和取对数。[0095]可选地，频带衰减时间确定单元301具体用于选取该频带的敲击响应信号中的衰减信号段中幅值衰减第一衰减分贝的位置为起点位置;选取比所述起点位置的幅值衰减第二衰减分贝的位置为终点位置;根据所述起点位置和所述终点位置从所述衰减信号段中截取目标衰减段;根据截取的目标衰减段中各采样点各自对应的时间和幅值，计算该频带对应的衰减曲线的下降斜率。[0096]可选地，频带衰减时间确定单元301具体用于根据如下公式1，计算频带Ff。对应的衰减曲线的下降斜率Kf。）：[0097][0098]其中，Xi为第i个采样点对应的时间，Yi为第i个采样点对应的幅值;η为所述目标衰减段中的采样点总数;i为取值1到η的整数，η为大于1的整数。[0099]可选地，频带衰减时间确定单元301具体用于根据如下公式2,计算频带Ff。对应的目标衰减分贝b的衰减时间Tbf。）：[0100]Tbfc=b-Kfc公式2[0101]其中，Kf。表示频带Ff。对应的衰减曲线的下降斜率，f。为频带Ff。）的中心频率。[0102]可选地，阻尼损失因子确定单元302具体用于根据如下公式3,确定所述待测部件在频带Ff。）内的阻尼损失因子DLFf。）：[0103]DLFfc=2.2fcXTbfc公式3[0104]其中，Tbf。为待测部件在频带Ff。对应的目标衰减分贝b的衰减时间；f。为频带Ff。的中心频率。[0105]可选地，所述待测部件的敲击测试响应信号为多个;频带衰减时间确定单元301具体用于针对所述待测部件的每个敲击测试响应信号，确定所述待测部件的该敲击测试响应信号在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；[0106]针对每个频带，计算所述待测部件的所有敲击测试响应信号在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间的平均值，并作为所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0107]本发明实施例提供的阻尼损失因子测试装置，通过根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。这样，通过响应信号在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间来反应不同频带内的阻尼损失因子，可保障部件的阻尼损失因子的测试准确度。[0108]本发明提供的阻尼损失因子测试装置的实施例具体可以用于执行上述各方法实施例的处理流程，其功能在此不再赘述，可以参照上述方法实施例的详细描述。[0109]参考图4,其示出了根据本发明一实施例的电子设备的实体结构示意图。如图4所示，该电子设备400可以包括：处理器processor401、存储器memory402和总线403,其中，处理器401，存储器402通过总线403完成相互间的通信。处理器401可以调用存储器402中的计算机程序，以执行上述各方法实施例所提供的方法，例如包括：[0110]根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；[0111]根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。[0112]在另一种实施方式中，所述处理器401执行所述计算机程序时实现如下方法：[0113]所述根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，包括：[0114]获取所述敲击测试响应信号中的衰减信号段在各频带各自对应的衰减曲线；[0115]针对每个频带，确定该频带对应的衰减曲线的下降斜率；[0116]针对每个频带，根据该频带对应的衰减曲线的下降斜率，计算所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0117]在另一种实施方式中，所述处理器401执行所述计算机程序时实现如下方法：[0118]所述获取所述敲击测试响应信号中的衰减信号段在各频带各自对应的衰减曲线，包括：[0119]对所述敲击测试响应信号进行频带滤波，得到每个频带的敲击响应信号；[0120]截取各频带的敲击响应信号中的衰减信号段；[0121]对各频带的所述衰减信号段进行数据处理，得到各频带各自对应的衰减曲线；[0122]其中，所述数据处理包括:平方、反向积分和取对数。[0123]在另一种实施方式中，所述处理器401执行所述计算机程序时实现如下方法：[0124]所述确定该频带对应的衰减曲线的下降斜率，包括：[0125]选取该频带的敲击响应信号中的衰减信号段中幅值衰减第一衰减分贝的位置为起点位置；[0126]选取比所述起点位置的幅值衰减第二衰减分贝的位置为终点位置；[0127]根据所述起点位置和所述终点位置从所述衰减信号段中截取目标衰减段；[0128]根据截取的目标衰减段中各采样点各自对应的时间和幅值，计算该频带对应的衰减曲线的下降斜率。[0129]在另一种实施方式中，所述处理器401执行所述计算机程序时实现如下方法：[0130]所述根据截取的目标衰减段中各采样点各自对应的时间和幅值，计算该频带对应的衰减曲线的下降斜率，包括：[0131]根据如下公式1，计算频带Ff。对应的衰减曲线的下降斜率Kf。）：[0132][0133]其中，Xi为第i个采样点对应的时间，Yi为第i个采样点对应的幅值;η为所述目标衰减段中的采样点总数;i为取值1到η的整数，η为大于1的整数。[0134]在另一种实施方式中，所述处理器401执行所述计算机程序时实现如下方法：[0135]所述根据该频带对应的衰减曲线的下降斜率，计算所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间，包括：[0136]根据如下公式2,计算频带Ff。对应的目标衰减分贝b的衰减时间Tbf。）：[0137]Tbfc=b-Kfc公式2[0138]其中，Kf。表示频带Ff。对应的衰减曲线的下降斜率，f。为频带Ff。）的中心频率。[0139]在另一种实施方式中，所述处理器401执行所述计算机程序时实现如下方法：[0140]所述根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子，包括：[0141]根据如下公式3,确定所述待测部件在频带Ff。）内的阻尼损失因子DLFf。）：[0142]DLFfc=2.2fcXTbfc公式3[0143]其中，Tbf。为待测部件在频带Ff。对应的目标衰减分贝b的衰减时间；f。为频带Ff。的中心频率。[0144]在另一种实施方式中，所述处理器401执行所述计算机程序时实现如下方法：[0145]所述待测部件的敲击测试响应信号为多个;所述根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，包括：[0146]针对所述待测部件的每个敲击测试响应信号，确定所述待测部件的该敲击测试响应信号在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；[0M7]针对每个频带，计算所述待测部件的所有敲击测试响应信号在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间的平均值，并作为所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。[0148]本发明实施例提供的电子设备，至少具有以下技术效果:通过根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。这样，通过响应信号在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间来反应不同频带内的阻尼损失因子，可保障部件的阻尼损失因子的测试准确度。[0149]本发明实施例公开一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非暂态计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被计算机执行时，计算机能够执行上述各方法实施例所提供的方法，例如包括：[0150]根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；[0151]根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。[0152]本发明实施例提供一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机程序，所述计算机程序使所述计算机执行上述各方法实施例所提供的方法，例如包括：[0153]根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；[0154]根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。[0155]此外，上述的存储器中的逻辑指令可以通过软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机装置可以是个人计算机，服务器，或者网络装置等执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器R0M，Read-OnlyMemory、随机存取存储器（RAM，RandomAccessMemory、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。[0156]以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。[0157]通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如R0MRAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机装置可以是个人计算机，服务器，或者网络装置等执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。[0158]最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

权利要求：1.一种阻尼损失因子测试方法，其特征在于，包括：根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，包括：获取所述敲击测试响应信号中的衰减信号段在各频带各自对应的衰减曲线；针对每个频带，确定该频带对应的衰减曲线的下降斜率；针对每个频带，根据该频带对应的衰减曲线的下降斜率，计算所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取所述敲击测试响应信号中的衰减信号段在各频带各自对应的衰减曲线，包括：对所述敲击测试响应信号进行频带滤波，得到每个频带的敲击响应信号；截取各频带的敲击响应信号中的衰减信号段；对各频带的所述衰减信号段进行数据处理，得到各频带各自对应的衰减曲线；其中，所述数据处理包括:平方、反向积分和取对数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定该频带对应的衰减曲线的下降斜率，包括：选取该频带的敲击响应信号中的衰减信号段中幅值衰减第一衰减分贝的位置为起点位置；选取比所述起点位置的幅值衰减第二衰减分贝的位置为终点位置；根据所述起点位置和所述终点位置从所述衰减信号段中截取目标衰减段；根据截取的目标衰减段中各采样点各自对应的时间和幅值，计算该频带对应的衰减曲线的下降斜率。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据截取的目标衰减段中各采样点各自对应的时间和幅值，计算该频带对应的衰减曲线的下降斜率，包括：根据如下公式1，计算频带Ff。对应的衰减曲线的下降斜率Kf。）：其中，Xi为第i个采样点对应的时间，Yi为第i个采样点对应的幅值;η为所述目标衰减段中的采样点总数;i为取值1到η的整数，η为大于1的整数。6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据该频带对应的衰减曲线的下降斜率，计算所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间，包括：根据如下公式2,计算频带Ff。对应的目标衰减分贝b的衰减时间Tbf。）：Tbfc=b-Kfc公式2其中，Kf。表示频带Ff。对应的衰减曲线的下降斜率，f。为频带Ff。的中心频率。7.根据权利要求1-6任一所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子，包括：根据如下公式3,确定所述待测部件在频带Ff。）内的阻尼损失因子DLFf。）：其中，Tbf。为待测部件在频带Ff。对应的目标衰减分贝b的衰减时间；f。为频带FO'。）的中心频率。8.根据权利要求1-6任一所述的方法，其特征在于，所述待测部件的敲击测试响应信号为多个;所述根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，包括：针对所述待测部件的每个敲击测试响应信号，确定所述待测部件的该敲击测试响应信号在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；针对每个频带，计算所述待测部件的所有敲击测试响应信号在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间的平均值，并作为所述待测部件在该频带对应的目标衰减分贝的衰减时间。9.一种阻尼损失因子测试装置，其特征在于，包括：频带衰减时间确定单元，用于根据待测部件的敲击测试响应信号，确定所述待测部件在预设的各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间；阻尼损失因子确定单元，用于根据所述待测部件在各频带各自对应的目标衰减分贝的衰减时间，确定所述待测部件在各频带内的阻尼损失因子。10.—种阻尼损失因子测试系统，其特征在于，包括:如权利要求9所述的阻尼损失因子测试装置、力锤和敲击测试响应信号采集器;其中，所述力锤用于对待测部件进行敲击测试；所述敲击测试响应信号采集器用于采集所述待测部件的敲击测试响应信号，并输出至所述阻尼损失因子测试装置。

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