申请/专利权人：合肥工业大学

申请日：2021-06-25

公开（公告）日：2021-09-14

公开（公告）号：CN113391193A

主分类号：G01R31/28(20060101)

分类号：G01R31/28(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.11.21#授权;2021.10.01#实质审查的生效;2021.09.14#公开

摘要：本发明公开了一种基于BIST结构和自振荡环的电路老化测试方法，包括：1、根据静态时序分析、强相关性和扇出过滤方法选择出代表性的关键路径集；2、针对每条代表性关键路径上的“逻辑门”进行分析，将第一个门替换为同类型的且增加一个输入引脚的门，在所增加的引脚上连接旁路多选器将代表性关键路径连接成环路，并确定每个“逻辑门”的非控制引脚值，以配置为自振荡环；3、利用固定型故障测试向量生成方法生成老化测试向量，敏化关键路径；4、敏化关键路径后，禁止系统时钟，使用片外定时器设定振荡时间，同时控制自振荡环开始振荡；5、基于BIST结构设计异步计数器，并计算电路延时，评估电路老化程度。

主权项：1.一种基于BIST结构和自振荡环的电路老化测试方法，其特征是按如下步骤进行：步骤1、从待测电路中选出代表性关键路径：步骤1.1、利用静态时序分析工具对待测电路的时序进行分析，选出路径时序余量小于时钟周期的m的路径加入初始路径集N0中，m表示时序余量所占时钟周期的比例；步骤1.2、利用强相关性过滤方法对初始路径集N0的路径进行筛选，去除门单元结构相同以及门单元数量相同或相差一个的冗余路径，从而得到筛选后的路径集N’0；步骤1.3、利用扇出过滤方法对筛选后的路径集N’0中每条路径的所有门的扇出数之和进行排序，并将扇出数之和大于n的路径作为代表性关键路径并加入到代表性关键路径集N1中，n表示每条路径所有门的扇出之和；步骤2、针对每条代表性关键路径上的“逻辑门”进行分析，确定每条代表性关键路径中“逻辑非门”的数量和每个“逻辑门”的非控制引脚值，以配置为自振荡环：步骤2.1、所述代表性关键路径中的“逻辑门”分为三类，包括：“逻辑非门”，“可屏蔽逻辑门”以及“不定型逻辑门”；所述“逻辑非门”包括“非门”、“与非门”和“或非门”；所述“可屏蔽逻辑门”包括“与门”和“或门”；所述“不定型逻辑门”包括“异或门”和“同或门”；判断代表性关键路径集N1中每条关键路径上的“逻辑非门”的数量是否为奇数，若是奇数，则判断相应关键路径上是否存在“异或门”或者“同或门”，若存在，则将所有的“异或门”或者“同或门”通过非控制逻辑值转化为“传输门”；若不存在，则直接执行步骤2.2；若不是奇数，则判断相应关键路径上是否存在“异或门”或者“同或门”，若存在，则将其中一个“异或门”或者“同或门”通过非控制逻辑值配置引脚转化为“反相器”，其余“异或门”或者“同或门”通过非控制逻辑值转化为“传输门”；若不存在，则在相应关键路径首尾相连而成的振荡回路上增加一个“非门”；步骤2.2、将每条代表性关键路径的第一个门单元替换为同类型的且增加一个输入引脚的门单元，在所增加的输入引脚处连接一个旁路多选器MUX的输出，并使得所述旁路多选器MUX的输入分别为相应关键路径的输出以及由第一个门单元类型所确定的逻辑值，从而构成自振荡环；步骤3、利用固定型故障测试向量生成方法将每条代表性关键路径中所有门单元的旁路输入引脚的非控制逻辑值回溯到待测电路的输入，从而生成老化测试向量；步骤4、基于BIST测试结构中的扫描链，将老化测试向量扫入每条代表性关键路径中每个门单元的非控制逻辑值所对应的输入引脚，以敏化代表性关键路径；步骤5、通过老化测量控制模块控制片外定时器的定时时间，同时控制所述旁路多选器MUX的多选端en，以实现自振荡环的振荡模式和逻辑功能模式的切换；步骤6、利用BIST测试结构中的多输入特征寄存器设计异步计数器，并将所述自振荡环的输出连接到所述异步计数器的时钟端；当自振荡环每发生一个周期的振荡，所述异步计数器值加1，从而根据定时器的定时时间和异步计数器的值，计算出代表性关键路径的标准延时值与老化延时值；将标准延时值与老化延时值进行比较，以评估待测电路的老化程度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 合肥工业大学 一种基于BIST结构和自振荡环的电路老化测试方法

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