申请/专利权人：电化株式会社

申请日：2020-03-31

公开（公告）日：2021-11-19

公开（公告）号：CN113677775A

主分类号：C09K11/08(20060101)

分类号：C09K11/08(20060101);C09K11/64(20060101);H01L33/50(20060101)

优先权：["20190409 JP 2019-074460"]

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2021.12.07#实质审查的生效;2021.11.19#公开

摘要：本发明的表面被覆荧光体粒子包含：含有荧光体的粒子和被覆该粒子的表面的被覆部，上述荧光体具有由通式M1aM2bM3cAl3N4－dOd其中，M1是选自Sr、Mg、Ca和Ba中的1种以上的元素，M2是选自Li和Na中的1种以上的元素，M3是选自Eu和Ce中的1种以上的元素所示的组成，上述a、b、c和d满足下述各式：0.850≤a≤1.150、0.850≤b≤1.150、0.001≤c≤0.015、0≤d≤0.40、0≤da+d＜0.30，相对于表面被覆荧光体粒子整体，氟元素的含有率为15质量％～30质量％，在规定的条件下测定得到的质量增加率为15％以下。

主权项：1.一种表面被覆荧光体粒子，包含：含有荧光体的粒子和被覆所述粒子的表面的被覆部，所述荧光体具有由通式M1aM2bM3cAl3N4－dOd所示的组成，其中，M1是选自Sr、Mg、Ca和Ba中的1种以上的元素，M2是选自Li和Na中的1种以上的元素，M3是选自Eu和Ce中的1种以上的元素，所述a、b、c和d满足下述各式：0.850≤a≤1.150、0.850≤b≤1.150、0.001≤c≤0.015、0≤d≤0.40、0≤da+d＜0.30，相对于所述表面被覆荧光体粒子整体，氟元素的含有率为15质量％～30质量％，在以下的条件下测定得到的质量增加率为15％以下，质量增加率测定条件：将由所述表面被覆荧光体粒子构成的粉体的初始质量设为W1，将在温度60℃、湿度90％RH的条件下经过50小时后的该粉体的质量设为W2，以W2－W1W1×100％的形式算出质量增加率。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 电化株式会社 表面被覆荧光体粒子、表面被覆荧光体粒子的制造方法及发光装置

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