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【发明授权】信息处理设备以及用于粒子模拟的方法和系统_富士通株式会社_202010597103.6 

申请/专利权人:富士通株式会社

申请日:2020-06-28

公开(公告)日:2024-04-23

公开(公告)号:CN112182942B

主分类号:G06F30/25

分类号:G06F30/25

优先权:["20190701 JP 2019-123149"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.04.23#授权;2021.01.22#实质审查的生效;2021.01.05#公开

摘要:提供了信息处理设备以及用于粒子模拟的方法和系统。技术包括获取与第一区域中的第一粒子相关联的第一时间的第一接触数据;计算关于在第二时间在第一区域中的粒子的第一位置数据,并接收关于在第二时间在第二区域中的粒子的第二位置数据;检测在第一时间与第一粒子接触并在第一区域中并且在第二时间在第一区域中的第二粒子;在第一粒子和第二粒子在第二时间接触的情况下,将第二粒子的位移从第一接触数据复制到第二时间的第二接触数据;检测在第二时间在第一区域或第二区域中并与第一粒子接触的第三粒子;以及在第一接触数据中列出第三粒子的情况下,将第三粒子的位移从第一接触数据复制到第二接触数据。

主权项:1.一种信息处理设备,包括:通信接口,其被配置成通过网络与另外的信息处理设备通信;存储单元,其用于存储与属于第一区域的第一粒子相关联的第一接触数据,所述第一接触数据指示在第一时间处与所述第一粒子接触的一个或更多个接触粒子以及在形成接触之后直到所述第一时间的接触时段上发生的所述第一粒子相对于所述接触粒子中的每个接触粒子的累积位移;以及处理单元,其用于执行包括以下的处理:计算指示在所述第一时间之后的第二时间处属于所述第一区域的粒子的位置的第一位置数据,以及从所述另外的信息处理设备接收指示在所述第二时间处属于第二区域的粒子的位置的第二位置数据,所述第二区域与所述第一区域接界,通过扫描一次所述存储单元中存储的所述第一接触数据,基于根据所述第一接触数据和所述第一位置数据获得的计算结果来检测第二粒子,所述第二粒子在所述第一时间处与所述第一粒子接触并属于所述第一区域并且在所述第二时间处属于所述第一区域,基于所述第一位置数据检查所述第一粒子和所述第二粒子在所述第二时间处是否彼此接触,并且在所述第一粒子和所述第二粒子在所述第二时间处接触的情况下,将所述第二粒子的累积位移从所述第一接触数据复制到与所述第二时间相对应的第二接触数据,基于所述第一位置数据和所述第二位置数据检测第三粒子,所述第三粒子是除了所述第二粒子以外的各自属于所述第一区域或所述第二区域并且在所述第二时间处与所述第一粒子接触的粒子,以及通过重复扫描所述存储单元中存储的所述第一接触数据,在所述第一接触数据中搜索所述第三粒子,并且当每个所述第三粒子被登记在所述第一接触数据中时,将所登记的第三粒子的累积位移从所述第一接触数据复制到所述第二接触数据。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 富士通株式会社 信息处理设备以及用于粒子模拟的方法和系统

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