申请/专利权人：上海电气电站设备有限公司

申请日：2018-11-30

公开（公告）日：2021-11-19

公开（公告）号：CN111256636B

主分类号：G01B21/02(20060101)

分类号：G01B21/02(20060101)

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2021.11.19#授权;2020.07.03#实质审查的生效;2020.06.09#公开

摘要：本发明涉及一种本叶片扭转量的测量方法，包括以下步骤：S1、获得叶片位移测量值：利用传感器同时对被测级叶片的侧面和转子进行测量，获得被测级叶片的叶片位移测量值Y；S2、确定极值：获取步骤S1得到的叶片位移测量值Y中的所有极大值、得到一组极大值数列，以及叶片位移测量值Y中的所有极小值、得到一组极小值数列；S3、确定有效极值：排除步骤S2得到的极大值数列中的异常极大值、得到一组有效极大值数列{YAm}，以及排除极小值数列{YBm}中的异常极小值、得到一组有效极小值数列{YBm}；S4、确定叶片扭转量：根据有效极大值数列{YAm}中的YAj+1、以及有效极小值数列{YBm}中的YBj，确定所测量的第j+1个被测级叶片的叶片扭转量Sj+1。

主权项：1.一种叶片扭转量的测量方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、获得叶片位移测量值：使转子转动，所述转子上安装有至少一圈被测级叶片，利用传感器同时对被测级叶片的侧面和转子进行测量，获得被测级叶片的叶片实际位移量U和转子的转子轴向窜动量V；根据同时刻测得的叶片实际位移量U和转子轴向窜动量V获得被测级叶片的叶片位移测量值Y：当叶片实际位移量U和转子轴向窜动量V的方向相同时，叶片位移测量值Y等于同时刻的叶片实际位移量U和转子轴向窜动量V的差值；当叶片实际位移量U和转子轴向窜动量V的方向相反时，叶片位移测量值Y等于同时刻的叶片实际位移量U和转子轴向窜动量V的和值；所述叶片实际位移量U、转子轴向窜动量V和叶片位移测量值Y都是一系列值；S2、确定极值：获取步骤S1得到的叶片位移测量值Y中的所有极大值、得到一组极大值数列，获取步骤S1得到的叶片位移测量值Y中的所有极小值、得到一组极小值数列；S3、确定有效极值：排除步骤S2得到的极大值数列中的异常极大值、得到一组有效极大值数列{YAm}，排除步骤S2得到的极小值数列中的异常极小值、得到一组有效极小值数列{YBm}，其中有效极大值数列{YAm}中的各项和有效极小值数列{YBm}中的各项都按照测量的先后顺序排列，m为正整数；S4、确定叶片扭转量：取所述有效极大值数列{YAm}中的第j+1项YAj+1、以及所述有效极小值数列{YBm}中的第j项YBj，根据YBj和YAj+1确定所测量的第j+1个被测级叶片的叶片扭转量Sj+1，j为自然数，叶片扭转量Sj+1的确认方式为：根据所述步骤S1中所获得的叶片位移测量值数列{Yn}得到叶片位移测量值的波形图，所述波形图的横坐标为转子转动距离X，所述波形图的纵坐标为叶片位移测量值Y，所述有效极大值数列{YAm}中各项在波形图中对应的点为Am，所述有效极小值数列{YBm}中各项在波形图中对应的点为Bm；所述异常极大值在波形图中对应的点为Ci，所述异常极小值在波形图中对应的点为Di；所述第j+1个被测级叶片的叶片扭转量Sj+1的计算方式为： 其中，XAj和XAj+1分别为点Aj和Aj+1对应的横坐标值；XBj为点Bj对应的横坐标值；e为异常点补偿量。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海电气电站设备有限公司 一种叶片扭转量的测量方法

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