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【发明公布】一种上前牙牙面任意点的牙釉质厚度测量方法_四川大学_202210856259.0 

申请/专利权人:四川大学

申请日:2022-07-14

公开(公告)日:2022-10-25

公开(公告)号:CN115239786A

主分类号:G06T7/60

分类号:G06T7/60;G06T17/30

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2022.11.11#实质审查的生效;2022.10.25#公开

摘要:本发明公开了一种上前牙牙面任意点的牙釉质厚度测量方法,包括以下步骤:获取目标上前牙CBCT影像;选取上前牙的牙面型值点,获取各型值点坐标;根据型值点坐标求取NURBS曲面控制点,通过控制点生成NURBS曲面;将NURBS曲面离散化,生成牙釉质任意点的厚度信息。自动生成上前牙牙釉质厚度,极大地提高了对牙釉质厚度测量的效率。该方法对牙齿无创,且具有较小可控的误差。该算法结合牙齿的微观结构能够帮助更深入地研究牙齿的力学及光学特性,为研究口腔上前牙内部结构,牙齿的多尺度建模及光学或力学分析提供便利。

主权项:1.一种上前牙牙面任意点的牙釉质厚度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:获取目标上前牙CBCT影像;步骤二:建立三维坐标系,选取上前牙的牙面型值点,获取各型值点坐标;步骤三:根据型值点坐标求取NURBS曲面控制点,通过控制点生成NURBS曲面;步骤四:将NURBS曲面离散化,生成牙釉质任意点的厚度信息。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 四川大学 一种上前牙牙面任意点的牙釉质厚度测量方法

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