申请/专利权人:北京航空航天大学
申请日:2021-07-08
公开(公告)日:2022-11-25
公开(公告)号:CN113514046B
主分类号:G01C19/58
分类号:G01C19/58
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2022.11.25#授权;2021.11.05#实质审查的生效;2021.10.19#公开
摘要:基于马赫曾德干涉的原子自旋进动信号检测装置及方法,通过利用电光相位调制的激光作为干涉测量光源,一方面该方法属于零差检测原理,避免了激光光源频率漂移带来的系统误差;另一方面,基于马赫曾德干涉测量技术,通过测量干涉仪两臂之间的相位差得到原子自旋进动信号信息,与检测光功率无关,避免了激光光源功率漂移带来的系统误差,同时能够利用电光调制检测方式,可有效抑制1f等低频噪声波动,有利于提高原子自旋惯性测量系统的长期稳定性。
主权项:1.基于马赫曾德干涉的原子自旋进动信号检测装置,其特征在于,包括:电光调制器,用于将检测激光进行高频调制,提高微弱信号的检测灵敏度;偏振分光棱镜,用于将光源分为光学特性相同的两束激光,其中一束激光作为信号光构成马赫曾德干涉光路中的第一条光路,另一束激光作为参考光构成马赫曾德干涉光路中的第二条光路;原子气室,位于所述第一条光路上,在消偏振分光棱镜与所述偏振分光棱镜之间,用于使所述信号光形成相位差;消偏振分光棱镜,用于所述第一条光路与所述第二条光路在其光敏面上重合并形成两路马赫曾德干涉光;锁相放大器,用于通过所述两路马赫曾德干涉光的信号输入,解调得到所述信号光的相位差,以便通过所述相位差提取旋光角信息,进而实现原子自旋进动信号检测;所述两路马赫曾德干涉光包括在所述光敏面的一侧由所述第一条光路的透射信号光和所述第二条光路的反射参考光形成的第一路马赫曾德干涉光,以及在所述光敏面的另一侧由所述第二条光路的透射参考光和所述第一条光路的反射信号光形成的第二路马赫曾德干涉光。
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权利要求:
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