申请/专利权人：深圳湾实验室

申请日：2022-12-19

公开（公告）日：2023-03-14

公开（公告）号：CN115778418A

主分类号：A61B6/03

分类号：A61B6/03;G01N23/04

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.03.31#实质审查的生效;2023.03.14#公开

摘要：本发明提供一种晶体阵列探测器和发射成像设备。该晶体阵列探测器包括晶体阵列、阵列反光层和光传感器层。晶体阵列包括复合晶体层，复合晶体层包括在横向平面内密贴排列的第一类型的多个第一闪烁晶体和第二类型的多个第二闪烁晶体，多个第一闪烁晶体分散在多个第二闪烁晶体中，多个第一闪烁晶体中的每个具有第一闪烁光衰减时间，多个第二闪烁晶体中的每个具有不同于第一闪烁光衰减时间的第二闪烁光衰减时间。由于在使用具有不同闪烁光衰减时间的多个第一闪烁晶体和多个第二闪烁晶体，可以在光传感器层中检测到的能量沉积事件中筛选出在两种类型的闪烁晶体内都发生过能量沉积的ICS事件。通过剔除或矫正ICS事件可以极大提升重建图像的信噪比。

主权项：1.一种晶体阵列探测器，其特征在于，包括：晶体阵列，所述晶体阵列包括复合晶体层，所述复合晶体层包括在横向平面内密贴排列的第一类型的多个第一闪烁晶体和第二类型的多个第二闪烁晶体，所述多个第一闪烁晶体分散在所述多个第二闪烁晶体中，所述多个第一闪烁晶体中的每个具有第一闪烁光衰减时间，所述多个第二闪烁晶体中的每个具有不同于所述第一闪烁光衰减时间的第二闪烁光衰减时间，所述多个第一闪烁晶体和所述多个第二闪烁晶体中的每个的侧面都覆盖有朝向对应的闪烁晶体的内部反光的层内反光层，沿垂直于所述横向平面的纵向方向，所述晶体阵列具有相对的入射面和出射面；阵列反光层，所述阵列反光层覆盖在所述入射面上且朝向所述晶体阵列的内部反光；以及光传感器层，所述光传感器层光耦合至所述出射面。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳湾实验室 晶体阵列探测器和发射成像设备

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