申请/专利权人：中国人民解放军海军工程大学

申请日：2022-11-30

公开（公告）日：2023-03-21

公开（公告）号：CN115600045B

主分类号：G06F17/10

分类号：G06F17/10;G11C29/10;G11C29/50

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.03.21#授权;2023.02.07#实质审查的生效;2023.01.13#公开

摘要：本发明公开采用通用检测工具检测的平均检测时间计算方法和系统，属于电子设备故障指标量化领域。包括：电子类单元数量与容量的比值向上取整，作为最大检测次数；根据各电子类单元状态检测的时间，计算最大检测次数内、每次检测耗时，根据任务时间内各电子类单元发生故障的概率，计算每次检测检出故障的权重系数，每次检测是按照被检测的次序，顺序依次从中取出容量数量的单元进行检测，直至所有单元都被检测；以权重系数加权累加各次检出故障的累计检测耗时，得到电子设备的平均检测时间。本发明量化并计算采用通用检测工具检测电子设备的平均检测时间，反映效率高低。把修理工作量、平均检测时间和容量关联起来，为工具的辅助选择奠定基础。

主权项：1.一种采用通用检测工具检测的平均检测时间计算方法，其特征在于，该方法包括：S1.获取通用检测工具的容量、构成电子设备的电子类单元数量、故障发生后所有电子类单元被检测的次序、各电子类单元状态检测的时间和任务时间内各电子类单元发生故障的概率；S2.电子类单元数量与容量的比值向上取整，作为最大检测次数；S3.根据各电子类单元状态检测的时间，计算最大检测次数内、每一次检测耗时，根据任务时间内各电子类单元发生故障的概率，计算每一次检测检出故障的权重系数，所述每一次检测是按照故障发生后所有电子类单元被检测的次序，顺序依次从中取出容量数量的电子类单元进行检测，直至所有电子类单元都被检测；S4.以权重系数加权累加各次检测检出故障的累计检测耗时，得到电子设备的平均检测时间；第j次检测的检测耗时和权重系数的计算过程如下：（1）初始化时间数组ts和概率数组ps为全0，两个数组中元素个数均为m；（2）初始化临时变量k=1；（3）确定检查序号s=k+j-1*m；（4）判断s是否大于n，若是，进入（6），否则，确定电子类单元编号，计算，计算；（5）k=k+1，判断k是否不大于m，若是，进入（3），否则，进入（6）；（6）确定数组ts中的最大数，作为，计算权重系数；电子设备的平均检测时间的计算公式如下： 其中，m表示通用检测工具的容量，j表示最大检测次数内、第j次采用通用检测工具检测多个电子类单元，取值范围为，表示最大检测次数，n表示构成电子设备的电子类单元数量，表示故障发生后所有电子类单元被检测的次序数组，表示电子类单元i的状态检查时间，表示电子类单元i发生故障的概率，表示第j次的检查耗时。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国人民解放军海军工程大学 采用通用检测工具检测的平均检测时间计算方法和系统

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