申请/专利权人：美光科技公司

申请日：2022-04-21

公开（公告）日：2023-05-05

公开（公告）号：CN115240754B

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56;G11C29/00;G11C29/54

优先权：["20210422 US 17/237,875"]

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.05.05#授权;2022.11.11#实质审查的生效;2022.10.25#公开

摘要：本申请涉及用于电力管理集成电路PMIC的偏置测试的自动上电模式。一种系统可将存储器系统的PMIC编程到特定模式。所述模式可使所述PMIC在接收到电力后将偏置施加到所述存储器系统的存储器装置，并且与将所述偏置施加到所述存储器装置的命令无关。所述系统可在阈值时间内控制一或多个操作条件例如，温度、湿度的同时将电力传输到所述存储器系统。所述PMIC可基于所述PMIC被编程到所述模式和所传输电力而在所述阈值时间期间将偏置施加到所述存储器装置。所述系统可标识由于在所述阈值时间内控制所述操作条件的同时将所述电力传输到所述存储器系统而产生的所述存储器装置的能力或缺陷。

主权项：1.一种方法，其包括：通过功能模块测试仪将存储器系统的电力管理集成电路PMIC编程为使所述PMIC在接收到电力后将偏置施加到所述存储器系统的存储器装置且与将所述偏置施加到所述存储器装置的命令无关的模式；在所述存储器系统与在与所述功能模块测试仪分离的测试腔室内的负载板耦合时，使用所述测试腔室在阈值时间内控制所述存储器系统的一或多个操作条件的同时通过所述负载板将电力传输到所述存储器系统，至少部分地基于对所述PMIC的所述模式进行编程以及将所述电力传输到所述存储器系统，所述PMIC将所述偏置施加到所述存储器装置；以及通过所述功能模块测试仪标识由于在所述阈值时间内控制所述一或多个操作条件的同时将所述电力传输到所述存储器系统而产生的所述存储器装置的能力或所述存储器装置的缺陷。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 美光科技公司 用于电力管理集成电路(PMIC)的偏置测试的自动上电模式

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