申请/专利权人：南宁泰克半导体有限公司

申请日：2023-07-10

公开（公告）日：2023-10-24

公开（公告）号：CN116935946A

主分类号：G11C29/56

分类号：G11C29/56;G11C29/50

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.11.10#实质审查的生效;2023.10.24#公开

摘要：本发明公开了内存条PMIC芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质，该方法包括：采用降压模块进行供电；当接收到内存条插入至内存条插槽所生成的接入信号时，向触摸电阻串口屏发送标识信息；其中，所述标识信息包括内存条插槽的内存条在位信息；对PMIC芯片的寄存器进行读取，并将读取数据显示于所述触摸电阻串口屏上；其中，所述读取数据包括功耗数据、温度数据、电压数据、电流数据和寄存器相关信息；根据所述触摸电阻串口屏显示的读取数据对PMIC芯片进行监测；对所述触摸电阻串口屏配置多级菜单，并将多级菜单与所述PMIC芯片的寄存器相关联，然后基于关联结果通过多级菜单对所述PMIC芯片的寄存器进行管理。本发明能够达到PMIC的可测试的目的。

主权项：1.一种内存条PMIC芯片测试方法，其特征在于，包括：采用降压模块进行供电；当接收到内存条插入至内存条插槽所生成的接入信号时，向触摸电阻串口屏发送标识信息；其中，所述标识信息包括内存条插槽的内存条在位信息；对PMIC芯片的寄存器进行读取，并将读取数据显示于所述触摸电阻串口屏上；其中，所述读取数据包括功耗数据、温度数据、电压数据、电流数据和寄存器相关信息；根据所述触摸电阻串口屏显示的读取数据对PMIC芯片进行监测；对所述触摸电阻串口屏配置多级菜单，并将多级菜单与所述PMIC芯片的寄存器相关联，然后基于关联结果通过多级菜单对所述PMIC芯片的寄存器进行管理。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 南宁泰克半导体有限公司 内存条PMIC芯片测试方法、装置、计算机设备及存储介质

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