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【发明公布】组合的ARC和Si硬掩模的组合物_上海艾深斯科技有限公司_202210055708.1 

申请/专利权人:上海艾深斯科技有限公司

申请日:2022-01-18

公开(公告)日:2023-07-28

公开(公告)号:CN116500864A

主分类号:G03F7/075

分类号:G03F7/075;G03F7/09;G03F7/11

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.08.15#实质审查的生效;2023.07.28#公开

摘要:新的组合物包含作为组合的抗反射涂层ARC和硬掩模HM的硅氧烷共聚物,其由以下单体的共水解形成:R1SiCl3、R2SiCl3、R3SiCl3、X3SiCH2aSiX3、R4SiX3、SiOR4,其中:X=Cl或OR,R是烷基例如甲基或乙基,R1是发色团例如苯基、苯基甲基、苯基乙基和苯基丙基,R2是H,R3是甲基或任选取代的C2‑C5烷基基团,并且任选的R4是亲水基团例如2‑[甲氧基聚亚乙基氧基6‑9丙基]或2‑甲酯基乙基,其中起始单体混合物中每种单体的摩尔百分比为0.00A、B、C、D、E、F0.95,0.00≤D0.50,且A+B+C+D+E+F的总摩尔数=1。

主权项:1.ARCHM的耐蚀刻抗反射组合物,包含:硅氧烷共聚物,其由以下单体在极性有机溶剂中的共水解形成:AR1SiCl3,BR2SiCl3,CR3SiCl3,DR4SiX3,EX3SiCH2aSiX3,FRO4Si,其中:X=Cl或OR,R在每次出现时,独立地表示具有1-12、更优选1-6个C原子的烷基,a=1-7,R1在每次出现时,独立地表示波长为180-210nm的显微光刻法中抗反射的发色团,例如苯基、苯基甲基、苯基乙基和苯基丙基,R2是H,R3在每次出现时,独立地表示甲基或任选取代的C2-C5烷基基团,R4在每次出现时,独立地表示亲水基团,例如2-[甲氧基聚亚乙基氧基6-9丙基]或2-甲酯基乙基,其中起始单体混合物中每种单体的摩尔百分比摩尔%或mol%0.00A、B、C、E、F95%,0.00≤D50%,其中A的优选mol%范围8%A20%,B的优选mol%范围35%B45%,C的优选mol%范围20%C70%,D的优选mol%范围1%D20%,E的优选mol%范围2%E30%,F的优选mol%范围2%F30%,和A+B+C+D+E+F的总摩尔百分比=100mol%。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 上海艾深斯科技有限公司 组合的ARC和Si硬掩模的组合物

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