申请/专利权人：广东工业大学

申请日：2023-04-18

公开（公告）日：2023-08-18

公开（公告）号：CN116612071A

主分类号：G06T7/00

分类号：G06T7/00;G06V10/82;G06F18/2413;G06V10/74

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2023.09.05#实质审查的生效;2023.08.18#公开

摘要：本发明提供一种具有重复元件的大幅面PCB面板精确定位方法，该方法包括九点标定，初始化工业相机参数，将金字塔下采样和霍夫圆检测进行Mark点的粗定位与使用卡尺检测圆的算法进行亚像素级别的精定位相结合进行左上和右下两个Mark点的定位，将DXF坐标系下点集的坐标转换成脉冲坐标，结合拍照位信息转换到像素坐标得到元器件坐标点集的像素坐标，再通过KNN算法对FOV左右邻近的重复元器件坐标信息进行去重，从而实现了高准确性、高精度、强自适应性的快速定位检测，同时还能够快速精准对不同PCB产品上的各个元器件进行精确定位和检测，极大提高了PCB面板中电子元器件缺陷检测的效率。

主权项：1.一种具有重复元件的大幅面PCB面板精确定位方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：利用工业相机和标定板通过九点标定法获取具有重复元件的大幅面PCB面板上Mark点的初始像素坐标和初始脉冲坐标，并获取脉冲坐标系和像素坐标系之间的单应性矩阵，以及左上和右下两个Mark点之间的初始斜率和初始角度；S2：获取PCB面板的DXF图像数据，并在DXF图像数据中设置若干个拍照位，将单应性矩阵输入工业相机并初始化其所有参数；S3：对在各个拍照位拍摄得到的PCB图像数据进行预处理，对预处理后的PCB图像数据中左上和右下的两个Mark点分别进行粗定位和精定位，获取左上和右下两个Mark点在像素坐标系下的像素坐标；S4：利用单应性矩阵将左上和右下两个Mark点在像素坐标系下的像素坐标转换为脉冲坐标并再次计算左上和右下两Mark点之间的斜率和角度，以DXF坐标系中心为旋转中心将预处理后的DXF图像数据进行旋转，使得左上和右下两个Mark点之间的斜率和初始斜率相同，完成坐标系的对齐；S5：根据预设的拍照位利用初始化后的工业相机进行点集拍摄，在每个拍照位设置若干个视场，每拍完一个视场便输出该视场中的点的脉冲坐标，并将该视场中的点从DXF图像数据中的总点集中剔除；遍历DXF图像数据中的总点集后，获取所有点的脉冲坐标，并利用单应性矩阵将每个点的脉冲坐标转化为像素坐标；S6：利用KNN算法对DXF图像数据总点集遍历过程中的重复点进行去重，将去重后的所有点的像素坐标保存并输出，完成所有元件的精确定位。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 广东工业大学 一种具有重复元件的大幅面PCB面板精确定位方法

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