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【发明授权】用于更软的反向恢复且有载流子的逐渐注入的半导体器件_日立能源瑞士股份公司_202180022071.X 

申请/专利权人:日立能源瑞士股份公司

申请日:2021-03-12

公开(公告)日:2023-08-18

公开(公告)号:CN115336007B

主分类号:H01L29/861

分类号:H01L29/861;H01L29/06;H01L21/329;H01L29/36

优先权:["20200317 EP 20163706.3"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2023.08.18#授权;2022.11.29#实质审查的生效;2022.11.11#公开

摘要:半导体器件按从第一主侧21到第二主侧22的顺序包括:第一导电类型的第一半导体层3、第二导电类型的第三半导体层41、第二导电类型的第五半导体层43、以及第二导电类型的第四半导体层42,其中,第三半导体层与第一半导体层3形成pn结5,第五半导体层43的最大掺杂浓度低于第四半导体层42的最大掺杂浓度且高于第三半导体层41的最大掺杂浓度,并且其中,第一导电类型的第一半导体区51和第二半导体区52完全嵌入在第五半导体层43中。在反向恢复期间,第一半导体区51的第一导电类型载流子注入持续时间不同于第二半导体区52的第一导电类型载流子注入持续时间。

主权项:1.一种半导体器件,包括:半导体晶片2,所述半导体晶片具有第一主侧21和与所述第一主侧21相对的第二主侧22;第一电极层11,所述第一电极层在所述第一主侧21上;第二电极层12,所述第二电极层在所述第二主侧22上;其中,所述半导体晶片2按从所述第一主侧21到所述第二主侧22的顺序包括:第一导电类型的第一半导体层3,所述第一半导体层与所述第一电极层11欧姆接触;第二导电类型的第二半导体层4,所述第二半导体层与所述第二电极层12欧姆接触,所述第二导电类型不同于所述第一导电类型,所述第一半导体层3与所述第二半导体层4形成第一pn结5,其中,所述第一导电类型的第一半导体区51和所述第一导电类型的第二半导体区52完全嵌入在所述第二半导体层4中,其中,所述第二半导体层4包括:所述第二导电类型的第三半导体层41,所述第三半导体层41与所述第一半导体层3形成所述第一pn结5;以及所述第二导电类型的第四半导体层42,所述第四半导体层42与所述第二电极层12处于所述欧姆接触中,所述第四半导体层42的最大掺杂浓度比所述第三半导体层41的最大掺杂浓度高至少一个数量级,以及所述第二导电类型的第五半导体层43,所述第五半导体层在所述第三半导体层41和所述第四半导体层42之间,所述第五半导体层43的最大掺杂浓度低于所述第四半导体层42的最大掺杂浓度并且高于所述第三半导体层41的最大掺杂浓度,其中,所述第一半导体区51和所述第二半导体区52完全嵌入在所述第五半导体层43中,其特征在于,在反向恢复期间,所述第一半导体区51的第一导电类型载流子注入持续时间不同于所述第二半导体区52的第一导电类型载流子注入持续时间。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 日立能源瑞士股份公司 用于更软的反向恢复且有载流子的逐渐注入的半导体器件

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