申请/专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心

申请日：2022-01-29

公开（公告）日：2023-09-22

公开（公告）号：CN114413794B

主分类号：G01B11/26

分类号：G01B11/26

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2023.09.22#授权;2022.05.20#实质审查的生效;2022.04.29#公开

摘要：本发明公开了一种大口径KDP晶体最佳相位匹配角测量系统及其测量方法，包括依次设置的激光器、整形器、标准镜、凹透镜和CCD相机，激光器出射激光经整形器整形后垂直入射到凹透镜，从而产生从多个角度入射到待测KDP晶体表面的激光，CCD相机用于接收并记录由待测KDP晶体出射的激光；所述测量系统还包括激光自准直仪、晶体自准直仪和图像处理模块，激光自准直仪用于对标准镜及激光器出射激光进行准直，晶体自准直仪用于准直待测KDP晶体，图像处理模块能够读取CCD相机获取的图像并计算出对应的相位匹配角。本发明能够实现KDP晶体相位匹配角度的精确测量，具有自动化程度高，操作方便，测量准确等优点。

主权项：1.一种大口径KDP晶体最佳相位匹配角测量系统，其特征在于：包括依次设置的激光器10、整形器11、标准镜20、凹透镜30和CCD相机50，激光器10出射激光经整形器11整形后垂直入射到凹透镜30，从而产生从多个角度入射到待测KDP晶体40表面的激光，CCD相机50用于接收并记录由待测KDP晶体40出射的激光；所述测量系统还包括激光自准直仪60、晶体自准直仪70和图像处理模块，激光自准直仪60用于对标准镜20及激光器10出射激光进行准直，晶体自准直仪70用于准直待测KDP晶体40，图像处理模块能够读取CCD相机50获取的图像并计算出对应的相位匹配角；所述激光器10和整形器11之间设有第一光阑12，整形器11和标准镜20之间依次设有反射镜13、透反镜14和角锥15，所述激光器10出射激光经反射镜13反射到透反镜14，由透反镜14透射的激光经角锥15反射后再通过透反镜14反射到标准镜20上，凹透镜30位于激光经标准镜20后的反射光路上，激光自准直仪60设置在标准镜20后端，在标准镜20与激光自准直仪60之间设有第二光阑21，标准镜20与透反镜13之间设有第一挡光板22。

全文数据：

权利要求：

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