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【发明公布】一种异形螺纹塞规的中径和斜面小径的测量方法_西安航天计量测试研究所_202310543074.9 

申请/专利权人:西安航天计量测试研究所

申请日:2023-05-15

公开(公告)日:2023-11-07

公开(公告)号:CN117006992A

主分类号:G01B21/10

分类号:G01B21/10;G01B21/20

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2023.11.24#实质审查的生效;2023.11.07#公开

摘要:本发明涉及一种异形螺纹塞规的中径和斜面小径的测量方法,用于解决目前异形螺纹塞规在生产加工过程无有效方法测量中径和斜面小径值的技术问题。本发明包括如下步骤:步骤1,判断异形螺纹塞规所处的加工状态,将异型螺纹塞规分为第一种加工状态和第二种加工状态;步骤2,根据异形螺纹塞规所处的加工状态,选择不同的测量方法测量异形螺纹塞规的中径值d2;步骤3,异形螺纹塞规斜面小径的测量通过轮廓扫描法扫描异形螺纹塞规的外形轮廓,得到60°螺纹牙型面的轮廓曲线和30°斜面的轮廓曲线,通过轮廓曲线拟合得到异形螺纹塞规的斜面小径值d5p。

主权项:1.一种异形螺纹塞规的中径和斜面小径的测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,判断异形螺纹塞规所处的加工状态,将异型螺纹塞规分为第一种加工状态和第二种加工状态;所述第一种加工状态为异形螺纹塞规中60°螺纹型面已经磨削完成,但30°斜面尚未磨削完成;所述第二种加工状态为异形螺纹塞规中的60°螺纹型面和30°斜面均磨削完成;步骤2,根据异形螺纹塞规所处的加工状态,选择不同的测量方法测量异形螺纹塞规的中径值d2;2.1当异形螺纹塞规处于第一种加工状态时,使用三针法测量异形螺纹塞规的中径值d2;2.2当异形螺纹塞规处于第二种加工状态时,使用轮廓扫描法测量异形螺纹塞规的中径值d2;步骤3,异形螺纹塞规斜面小径的测量通过轮廓扫描法扫描异形螺纹塞规的外形轮廓,得到60°螺纹牙型面的轮廓曲线和30°斜面的轮廓曲线,通过轮廓曲线拟合得到异形螺纹塞规的斜面小径值d5p。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 西安航天计量测试研究所 一种异形螺纹塞规的中径和斜面小径的测量方法

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