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【发明公布】一种海水漫射衰减系数、真光层深度及透明度测量方法_中国科学院南海海洋研究所_202311333866.X 

申请/专利权人:中国科学院南海海洋研究所

申请日:2023-10-16

公开(公告)日:2023-12-29

公开(公告)号:CN117309783A

主分类号:G01N21/27

分类号:G01N21/27;G01N21/47;G01N21/59;G01C13/00

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.01.16#实质审查的生效;2023.12.29#公开

摘要:本发明公开了一种海水漫射衰减系数、真光层深度及透明度测量方法,包括获取海水辐照度辐亮度高光谱剖面分布及其对应剖面深度同步测量数据;根据漫射衰减系数的定义,利用所获取的海水辐照度辐亮度高光谱剖面分布及其对应剖面深度,计算得到不同波段漫射衰减系数的剖面分布;利用所得到的不同波段漫射衰减系数的剖面分布,根据真光层深度与特定波长漫射衰减系数的相关关系,计算出真光层深度;利用所得到的真光层深度,根据真光层深度与海水透明度之间的相关关系,计算出海水透明度。本发明以辐射传输及漫射衰减系数及真光层深度原理和数学计算公式为基础,提供了一种辐照度辐亮度低成本剖面测量技术。

主权项:1.一种海水漫射衰减系数、真光层深度及透明度测量方法,其特征在于,所述方法包括:获取海水辐照度辐亮度高光谱剖面分布及其对应剖面深度同步测量数据;根据漫射衰减系数的定义,利用所获取的海水辐照度辐亮度高光谱剖面分布及其对应剖面深度,计算得到不同波段漫射衰减系数的剖面分布;利用所得到的不同波段漫射衰减系数的剖面分布,根据真光层深度与特定波长漫射衰减系数的相关关系,计算出真光层深度;利用所得到的真光层深度,根据真光层深度与海水透明度之间的相关关系,计算出海水透明度。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院南海海洋研究所 一种海水漫射衰减系数、真光层深度及透明度测量方法

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