申请/专利权人：湖南华曙高科技股份有限公司

申请日：2023-09-19

公开（公告）日：2024-01-05

公开（公告）号：CN117340277A

主分类号：B22F10/366

分类号：B22F10/366;B22F10/28;B22F12/00;B28B1/00;B29C64/153;B33Y40/00

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.01.23#实质审查的生效;2024.01.05#公开

摘要：一种双光学系统避风分区扫描方法、装置及增材制造设备，通过获取工作区域中每一区域中所有截面轮廓中的所有顶点坐标，以及截面轮廓与分界线和分区线相交的所有交点坐标，并将所有顶点坐标和交点坐标代入公式得到每一个区域的轮廓总面积；再任意选定一组相对角的两个区域，通过平行移动分区线，使得该选定的相对角的两个区域的轮廓总面积的差值绝对值最小，此时分区线位置为最佳位置；最后按照最佳位置的分区线重新划分得到的四个区域，控制双光学系统同时对上述选定的相对角的两个区域分别进行平行扫描；当该两个区域扫描完成后，同时对另一组相对角的对应两个区域分别进行平行扫描，减少双光学扫描系统的避风等待时间，提高工件的烧结效率。

主权项：1.一种双光学系统避风分区扫描方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、将双光学系统沿风场方向进行依次分布，以使工作区域沿垂直于风场方向的分界线为基准，被双光学系统进行分别覆盖；步骤二、通过切片获取烧结区域中当前层的截面轮廓；并沿风场方向获取烧结区域的中心线，记作分区线；步骤三、获取工作区域中被分界线和分区线划分得到的四个区域，获取每一区域中所有截面轮廓中的所有顶点坐标，以及截面轮廓与分界线和分区线相交的所有交点坐标，并将所有顶点坐标和交点坐标代入下述公式得到每一个区域的轮廓总面积； 其中，第i点的坐标为xi,yi，n为每一区域中所有顶点和交点的总数量；步骤四、任意选定一组相对角的两个区域，通过平行移动分区线，使得该选定的相对角的两个区域的轮廓总面积的差值绝对值最小，此时分区线的位置为最佳位置；步骤五、按照最佳位置的分区线重新划分得到的四个区域，控制双光学系统同时对上述选定的相对角的两个区域分别进行平行扫描；当该两个区域扫描完成后，同时对另一组相对角的对应两个区域分别进行平行扫描。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 湖南华曙高科技股份有限公司 一种双光学系统避风分区扫描方法、装置及增材制造设备

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD