申请/专利权人：西安电子科技大学

申请日：2021-07-21

公开（公告）日：2024-01-30

公开（公告）号：CN113759324B

主分类号：G01S7/38

分类号：G01S7/38

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.01.30#授权;2021.12.24#实质审查的生效;2021.12.07#公开

摘要：本发明公开了一种基于箔条干扰实测数据的对抗方法，包括：获取雷达的回波信号；对回波信号进行处理，得到距离‑多普勒二维像；对距离‑多普勒二维像进行二维恒虚警检测，得到过检测门限的点集；对过检测门限的点集进行聚类分组，得到目标信号和箔条信号分离的若干组数据；从距离‑多普勒二维像中获取每组数据的若干特征信息；利用分类器和特征信息对若干组数据进行分类，得到目标信号和箔条信号的识别结果。本发明提供的基于箔条干扰实测数据的对抗方法由于采用的特征信息在箔条扩散的各个阶段表现出了与目标较高的区分度，从而使得该方法在箔条云整个扩散过程中都具备有效的对抗效果和极强的普适性。

主权项：1.一种基于箔条干扰实测数据的对抗方法，其特征在于，包括：获取雷达的回波信号；对所述回波信号进行处理，得到距离-多普勒二维像，包括：对雷达的回波信号进行数字下变频处理，以滤除回波信号中的载频分量，得到基带信号；对所述基带信号进行脉冲压缩和相干积累，得到距离-多普勒二维像；对所述距离-多普勒二维像进行二维恒虚警检测，得到过检测门限的点集；对过检测门限的点集进行聚类分组，得到目标信号与箔条信号分离的若干组数据，包括：选取若干散点作为初始聚类中心，并将其均匀铺满整个距离-多普勒平面；计算所有聚类中心的偏移量，并对每个聚类中心进行相应的偏移；其中，所述聚类中心的偏移量的计算公式为： 式中，xt为t时刻的某一类的中心点，xt+1为t+1时刻该中心点的偏移量，k为相干积累后的点数，Sh为包含在以xt为中心、h为半径范围内的点的集合，h为聚类半径，xi表示过检测门限的点集中的某一点；若判断任意两个聚类中心的距离小于聚类半径时，则将上述两个聚类中心合并为它们的中点；对所述聚类中心的偏移量进行更新，并进行聚类以将目标信号与箔条信号分离，直至所有聚类中心的偏移量收敛，得到若干组数据；从所述距离-多普勒二维像中获取每组数据的若干特征信息，包括：从所述距离-多普勒二维像中获取各组数据占据的距离单元数、多普勒通道数以及过门限总点数；计算组内各距离单元频谱的矩峰度和偏度，并分别计算其均值以得到该组的矩峰度和偏度；根据组内各距离单元的频谱差异计算该组频偏和以及半功率宽度方差；利用分类器和所述特征信息对所述若干组数据进行分类，得到目标信号和箔条信号的识别结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 西安电子科技大学 一种基于箔条干扰实测数据的对抗方法

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