申请/专利权人：胜达克半导体科技(上海)股份有限公司

申请日：2021-03-17

公开（公告）日：2024-02-06

公开（公告）号：CN113051113B

主分类号：G06F11/22

分类号：G06F11/22;G01R35/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.02.06#授权;2023.08.18#著录事项变更;2021.07.16#实质审查的生效;2021.06.29#公开

摘要：本发明涉及芯片测试机技术领域，具体地说是一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法。其特征在于包括如下步骤：S1，备份；S2，根据波形配置文件的参数调用数学函数产生相应的点，将点数据保存为波形文件格式；S3，设置示波器配置文件，通道触发条件；S4，编译器将波形文件编译为中间文档，装载器将中间文档载入AWG中；S5，触发芯片测试机运行；S6，示波器抓取数据，S7，保存数据；S8，恢复芯片测试机的设置和数据；S9，测试。同现有技术相比，在不改变芯片测试机原有测试程序的情况下，动态修改AWG波形数据，并用示波器抓取其波形频率以及通道之间的延时数据，解决了在测试过程中芯片测试机需要重新修改程序的问题，提高了调试效率。

主权项：1.一种芯片测试机动态调试时修改、抓取AWG波形数据的方法，其特征在于包括如下步骤：S1，备份当前芯片测试机的设置和数据；S2，读取波形配置文件，根据波形配置文件的参数调用相应的数学函数产生相应的点，将产生的点数据保存为波形文件格式；S3，使用GPIB缆线将示波器和芯片测试机的计算机连接，设置示波器配置文件，并根据示波器配置文件设置示波器通道触发条件；S4，计算机中的编译器将波形文件编译为装载器可以识别的中间文档，装载器将中间文档载入到芯片测试机的AWG的存储器中；S5，触发芯片测试机运行，并根据示波器配置文件开启相应通道；S6，示波器根据设置的触发条件抓取数据，S7，保存步骤S6中抓取的数据；S8，根据步骤S1中备份的设置和数据，恢复芯片测试机的设置和数据；S9，对步骤S7中保存的数据进行测试，判断实际的波形频率、通道之间的延时数据是否满足测试要求；所述的步骤S9具体包括如下步骤：S91，在测试配置文件中设置期望的波形频率、期望的延时数据及测试要求；S92，开始测试，将抓取的波形频率与设置的期望频率比较，判断是否满足测试要求，并记录数据；S93，将抓取的延时数据与设置的期望延时数据比较，判断是否满足测试要求，并记录数据；S94，输出步骤S92、S93中的数据及判断结果。

全文数据：

权利要求：

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