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【发明授权】基于序进等效的星载电子单机长寿命加速验证方法_北京卫星环境工程研究所_202110954984.7 

申请/专利权人:北京卫星环境工程研究所

申请日:2021-08-19

公开(公告)日:2024-02-13

公开(公告)号:CN113656972B

主分类号:G06F30/20

分类号:G06F30/20;G06F119/04;G06F119/08

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.02.13#授权;2021.12.03#实质审查的生效;2021.11.16#公开

摘要:本申请公开了基于序进等效的星载电子单机长寿命加速验证方法。包括以下步骤:基于加速试验剖面环境,对星载电子单机做循环加速寿命试验;所述循环加速寿命试验出现至少一个产品失效或者到达试验截止时间,则停止试验;获取星载电子单机试验样品在加速寿命试验过程中的性能参数随时间和应力变化的试验数据,并建立星载电子单机序进等效模型;基于星载电子单机序进等效模型,评估产品寿命指标。本申请在加速试验剖面环境下对星载电子单机做循环加速寿命试验,当试验过程中出现至少一个产品失效或到达试验截止时间则停止试验,建立星载电子单机序进等效模型,计算可信度更高的加速因子,进而评估产品寿命指标,得到更为准确的寿命验证结果。

主权项:1.一种基于序进等效的星载电子单机长寿命加速验证方法,其特征在于,包括以下步骤:获取星载电子单机的加速试验剖面环境;基于加速试验剖面环境,对星载电子单机做循环加速寿命试验;所述循环加速寿命试验出现至少一个产品失效或者到达试验截止时间,则停止试验;获取星载电子单机试验样品在加速寿命试验过程中的性能参数随时间和应力变化的试验数据,并建立星载电子单机序进等效模型;基于星载电子单机序进等效模型,评估产品寿命指标;具体地,根据以下公式建立星载电子单机序进等效模型: 其中,A,m,n为常数,dMdt为产品特征参数随时间的变化率,j为电流密度,V为电压,T为绝对温度;具体地,根据以下公式评估产品寿命指标: 其中,θL为最优置信下限,t#j各试验产品的等效寿命,j为试验样品个数,1-α为置信水平,α表示显著性水平,n表示样品总数量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京卫星环境工程研究所 基于序进等效的星载电子单机长寿命加速验证方法

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