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【发明公布】存储单元结构、存储阵列结构及进位运算的方法_致真存储(北京)科技有限公司_202311573478.9 

申请/专利权人:致真存储(北京)科技有限公司

申请日:2023-11-23

公开(公告)日:2024-02-23

公开(公告)号:CN117596892A

主分类号:H10B61/00

分类号:H10B61/00;H10N50/20;H10N50/10;H10N50/85;G11C11/16;G06F7/575;G06F15/78

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.03.12#实质审查的生效;2024.02.23#公开

摘要:本发明提供一种存储单元结构、存储阵列结构及进位运算的方法,属于半导体器件领域。该存储单元结构包括第一SOT底电极层、第二SOT底电极层以及磁隧道结MTJ,第一SOT底电极层和第二SOT底电极层交叉布置,磁隧道结MTJ位于第一SOT底电极层和第二SOT底电极层交叉的重叠区域,且磁隧道结MTJ的中心不在重叠区域的对角线,第一SOT底电极层包括第一通电端口,用于决定通过第一SOT底电极层的电流方向,第二SOT底电极层包括第二通电端口,用于决定通过第二SOT底电极层的电流方向。本发明所提供的存储单元结构契合Nand‑like或十字型工艺结构,两个SOT底电极层可以直接接触或为一体结构,不需要中间介质的间隔,简化了制作工艺,并缩小了器件体积,还可以实现存算一体。

主权项:1.一种存储单元结构,其特征在于,所述存储单元结构包括第一SOT底电极层、第二SOT底电极层以及磁隧道结MTJ,所述第一SOT底电极层和所述第二SOT底电极层交叉布置,所述磁隧道结MTJ位于所述第一SOT底电极层和所述第二SOT底电极层交叉的重叠区域,且所述磁隧道结MTJ的中心不在所述重叠区域对角线上,所述第一SOT底电极层设置有第一通电端口,以确定所述第一SOT底电极层的电流方向,所述第二SOT底电极层设置有第二通电端口,以确定所述第二SOT底电极层的电流方向。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 致真存储(北京)科技有限公司 存储单元结构、存储阵列结构及进位运算的方法

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