申请/专利权人：同济大学;北京遥测技术研究所

申请日：2023-11-21

公开（公告）日：2024-03-01

公开（公告）号：CN117629584A

主分类号：G01M11/02

分类号：G01M11/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.19#实质审查的生效;2024.03.01#公开

摘要：本发明涉及一种用于Nd：YAG激光器的全口径偏振测量系统及方法，所述全口径偏振测量系统包括精密圆孔、反变迹滤光片、零级14波片、零级12波片、薄膜偏振片和两台高损伤阈值能量计；使用所述全口径偏振测量系统进行测量时，对于基频激光，先使用所述零级14波片进行相位调制获得线偏振光，对于倍频激光，直接使用所述零级12波片进行相位延迟以获得所需偏振方向的输出；在获得待测激光所需偏振方向的输出后，通过两台高损伤阈值能量计完成待测激光全口径偏振度测量，并评价其区域稳定性。与现有技术相比，本发明具有测量效率和测量精度高，可重复性好，结构简单等优点。

主权项：1.一种用于Nd：YAG激光器的全口径偏振测量系统，其特征在于，包括精密圆孔9以及在其之后依次设置的反变迹滤光片2、零级14波片4、零级12波片3和薄膜偏振片1，所述薄膜偏振片1的后方设置有第一高损伤阈值能量计5，侧方设置有第二高损伤阈值能量计6；所述第一高损伤阈值能量计5和第二高损伤阈值能量计6的靶面直径均大于所述精密圆孔9的直径；使用所述全口径偏振测量系统进行测量时，对于基频激光，先使用所述零级14波片4进行相位调制获得线偏振光，再使用所述零级12波片3进行相位延迟以获得所需偏振方向的输出；对于倍频激光，直接使用所述零级12波片3进行相位延迟以获得所需偏振方向的输出；在获得待测激光所需偏振方向的输出后，通过所述第一高损伤阈值能量计5和所述第二高损伤阈值能量计6完成待测激光全口径偏振度测量，并评价其区域稳定性。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 同济大学;北京遥测技术研究所 一种用于Nd：YAG激光器的全口径偏振测量系统及方法

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