申请/专利权人：华中科技大学

申请日：2023-12-08

公开（公告）日：2024-03-01

公开（公告）号：CN117636096A

主分类号：G06V10/774

分类号：G06V10/774;G06V10/44;G06V10/764;G06V10/82;G06T7/00;G06N3/0455;G06N3/047;G06N3/0475;G06N3/094;G06N3/096;G06N3/084

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.03.19#实质审查的生效;2024.03.01#公开

摘要：本发明属于工业表面缺陷检测相关技术领域，其公开了一种基于域间共性特征迁移生成的小样本表面缺陷识别方法，包括以下步骤：1采集缺陷图像样本数据并构建表面缺陷识别模型，包括特征提取分离模块、图像生成模块及缺陷识别模块；2基于特征提取分离模块分离源域的共性内容特征与独有风格特征，并提取源域的共性内容特征；同时提取目标域的独有风格特征；3图像生成模块将从源域迁移的共性内容特征与目标域的独有风格特征相结合以生成目标域的样本；4将生成的目标域图像与原始的目标域图像输入缺陷识别模块以对缺陷识别模块进行训练，进而采用训练后的表面缺陷识别模型进行表面缺陷识别。本发明解决了小样本可用信息有限的问题。

主权项：1.一种基于域间共性特征迁移生成的小样本表面缺陷识别方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：1采集缺陷图像样本数据并构建表面缺陷识别模型，所述表面缺陷识别模型包括特征提取分离模块、图像生成模块及缺陷识别模块；其中，将当前任务中小样本存在的域作为目标域，同时将存在充足相似样本的域作为源域；2基于特征提取分离模块分离源域的共性内容特征与独有风格特征，并提取源域的共性内容特征；同时提取目标域的独有风格特征；3所述图像生成模块将从源域迁移的共性内容特征与目标域的独有风格特征相结合以生成目标域的样本；4将生成的目标域图像与原始的目标域图像一并输入所述缺陷识别模块以对所述缺陷识别模块进行训练，进而采用训练后的所述表面缺陷识别模型进行表面缺陷识别。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 华中科技大学 基于域间共性特征迁移生成的小样本表面缺陷识别方法

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