申请/专利权人：深圳技术大学

申请日：2023-05-04

公开（公告）日：2024-03-01

公开（公告）号：CN220554004U

主分类号：H03M1/12

分类号：H03M1/12;H03M1/06

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.01#授权

摘要：本实用新型公开了一种AD采样系统，包括：AD采样模块、主控模块以及显示模块；所述AD采样模块与所述主控模块连接，用于根据所述主控模块的控制对待测电路进行信号采集；所述显示模块与所述主控模块连接，用于根据所述主控模块的控制显示采集的电压值；所述主控模块还用于采用中位平均滤波算法，对所述AD采样模块采集的数据进行滤波处理。本实用新型实施例提供的AD采样系统解决了高精度AD采样转换速度慢的技术问题。

主权项：1.一种AD采样系统，其特征在于，包括：AD采样模块、主控模块以及显示模块；所述AD采样模块与所述主控模块连接，用于根据所述主控模块的控制对待测电路进行信号采集；所述显示模块与所述主控模块连接，用于根据所述主控模块的控制显示采集的电压值；所述主控模块还用于采用中位平均滤波算法，对所述AD采样模块采集的数据进行滤波处理；所述主控模块包括STM32F103C8T6芯片；所述AD采样系统还包括滤波模块；所述滤波模块与所述AD采样模块连接，用于保证AD采样的精度；所述滤波模块包括多个滤波电路，多个所述滤波电路与所述AD采样模块连接；所述滤波电路包括电阻和电容；所述电阻一端与所述AD采样模块连接，另一端通过带屏蔽层的双绞线与待测电路连接；所述电容一端与所述AD采样模块连接，另一端接地。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 深圳技术大学 一种AD采样系统

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