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【发明公布】空白测试卡中的缺陷干扰诊断测试的分类_比奥-拉德欧洲有限公司_202280048499.6 

申请/专利权人:比奥-拉德欧洲有限公司

申请日:2022-06-24

公开(公告)日:2024-03-12

公开(公告)号:CN117693774A

主分类号:G06V10/764

分类号:G06V10/764;G06V10/98;G06V20/69;G06V10/82

优先权:["20210625 US 63/215,318"]

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.03.29#实质审查的生效;2024.03.12#公开

摘要:从测试设备接收输入图像。通过将图像到图像转换模型应用于所述输入图像来生成一个或多个合成图像。基于所述一个或多个合成图像,应用二进制分类器以确定接收到的输入图像的分类。

主权项:1.一种用于对空白测试卡进行分类的方法,所述方法包括:接收所述空白测试卡的源图像;通过将图像到图像转换模型应用于所述源图像来生成一个或多个合成图像;以及将分类器应用于所述一个或多个合成图像以确定所述空白测试卡的分类。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 比奥-拉德欧洲有限公司 空白测试卡中的缺陷干扰诊断测试的分类

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