申请/专利权人：上海奕瑞光电子科技股份有限公司

申请日：2023-12-01

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN117705836A

主分类号：G01N23/04

分类号：G01N23/04;G01N23/18

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.02#实质审查的生效;2024.03.15#公开

摘要：本发明提供一种基于TDI技术的卷绕电芯的缺陷检测系统，包括电芯overhang检测平台、电芯极片检测平台和运动平台；所述运动平台的上表面放置卷绕电芯，所述卷绕电芯在所述运动平台上运动，并经过所述电芯overhang检测平台和所述电芯极片检测平台；所述电芯overhang检测平台包括两台微焦点射线源和第一TDI探测器、第二TDI探测器，用于对所述卷绕电芯的四个overhang检测段进行缺陷检测；所述电芯极片检测平台包括一台小焦点射线源和第三TDI探测器，用于对所述卷绕电芯的极片碎片进行缺陷检测。本发明能降低动力卷绕电芯overhang和极片碎片的X‑ray无损检测的设备成本。

主权项：1.基于TDI技术的卷绕电芯的缺陷检测系统，其特征在于，包括电芯overhang检测平台、电芯极片检测平台和运动平台；所述运动平台的上表面放置卷绕电芯，所述卷绕电芯在所述运动平台上运动，并经过所述电芯overhang检测平台和所述电芯极片检测平台；所述电芯overhang检测平台包括两台微焦点射线源和第一TDI探测器、第二TDI探测器，用于对所述卷绕电芯的四个overhang检测段进行缺陷检测；所述电芯极片检测平台包括一台小焦点射线源和第三TDI探测器，用于对所述卷绕电芯的极片碎片进行缺陷检测。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 基于TDI技术的卷绕电芯的缺陷检测系统

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