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【发明公布】一种基于FPGA的关于IEEE1149.10标准的高带宽测试数据的CRC校验方法_桂林电子科技大学_202311844170.3 

申请/专利权人:桂林电子科技大学

申请日:2023-12-28

公开(公告)日:2024-03-15

公开(公告)号:CN117714338A

主分类号:H04L43/0823

分类号:H04L43/0823;H04L43/0876;H04L43/50

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.03.15#公开

摘要:本发明是一种基于FPGA的关于IEEE1149.10标准的高带宽测试数据的CRC校验方法,包括:三个存储模块,存储模块一和存储模块二用于交替接收待校验数据,在接收的同时进行CRC校验,校验正确则写入存储模块三,否则发送校验错误信息;CRC校验方式采用连续并行校验的思路,不受数据长短不一的影响。以上存储模块一和存储模块二交替接收数据,极大缓解了IEEE1149.10标准要求的高带宽测试数据传输压力,在第三存储模块中存放校验正确的数据,为后续数据的进一步处理提供了便利。

主权项:1.一种基于FPGA的关于IEEE1149.10标准的高带宽测试数据的CRC校验方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:存储模块一和CRC校验模块接收待校验数据,接收的同时校验数据;步骤二:校验正确则存储模块一的数据写入存储模块三,校验错误则发送错误信息;步骤三:存储模块二和CRC校验模块接收下一个待校验数据,接收的同时校验数据;步骤四:校验正确则存储模块二的数据写入存储模块三,校验错误则发送错误信息;到此,回到步骤一。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 桂林电子科技大学 一种基于FPGA的关于IEEE1149.10标准的高带宽测试数据的CRC校验方法

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