申请/专利权人：武汉资联虹康科技股份有限公司

申请日：2023-10-30

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN117695537A

主分类号：A61N7/02

分类号：A61N7/02

优先权：

专利状态码：在审-实质审查的生效

法律状态：2024.04.02#实质审查的生效;2024.03.15#公开

摘要：本发明公开一种凹面相控聚焦超声探头的声程差计算方法、装置及介质，方法包括：获取凹面探头的参数；根据获取的参数确定每个环的等效半径；根据每个环的等效半径，结合相控焦点位置进行解算，得到相控焦点到各环的距离，并根据相控焦点到各环的距离，得到凹面探头的声程差。本发明解决了因忽略凹面影响而导致测量精确性不高的问题。

主权项：1.凹面相控聚焦超声探头的声程差计算方法，其特征在于，包括：获取凹面探头的参数；根据获取的参数确定每个环的等效半径；根据每个环的等效半径，结合相控焦点位置进行解算，得到相控焦点到各环的距离，并根据相控焦点到各环的距离，得到凹面探头的声程差。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 武汉资联虹康科技股份有限公司 凹面相控聚焦超声探头的声程差计算方法、装置及介质

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