申请/专利权人：湖南健坤激光科技有限公司

申请日：2022-01-17

公开（公告）日：2024-03-15

公开（公告）号：CN114414207B

主分类号：G01M11/00

分类号：G01M11/00;B65G29/00

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.03.15#授权;2022.06.03#实质审查的生效;2022.04.29#公开

摘要：本发明公开了OIS技术领域的一种OIS测试设备；包括测试转盘、固定测试架、上料架和上料盘，固定测试架和上料架呈水平对称设置于测试转盘两侧，测试转盘、固定测试架和上料架的底部共同设置底板，测试转盘包括转盘，转盘上对称设置有四个固定装置，转盘的上方设置固定板，固定板靠近上料架一侧的顶部设有推动气缸。本发明的有益效果是：实现OIS零部件的自动上料，减少OIS零部件性能检测时的人工成本浪费。同时通过多个固定装置上的多个放置槽进行OIS零部件的放置，使一次动作即可对两个OIS零部件进行同一项性能测试，进而实现OIS零部件的性能比对测试，使OIS零部件的测试结果更加趋向于单批次零部件的平均水平。

主权项：1.一种OIS测试设备，包括测试转盘100、固定测试架200、上料架300和上料盘400，其特征在于：所述固定测试架200和上料架300呈水平对称设置于测试转盘100两侧，所述测试转盘100、固定测试架200和上料架300的底部共同设置底板500，所述测试转盘100包括转盘120，所述转盘120上对称设置有四个固定装置110，所述转盘120的上方设置固定板140，所述固定板140靠近上料架300一侧的顶部设有推动气缸141，所述固定板140远离推动气缸141的一端及垂直两个方向均设置转盘顶部测试器142，三个所述转盘顶部测试器142的底端均设置转盘顶部测试探针143，所述固定板140垂直推动气缸141两端的底端均设置转盘底部测试器130，两个所述转盘底部测试器130的顶部均设置底部控制器132，两个所述底部控制器132与转盘顶部测试探针143位置相匹配的顶部均设置转盘底部测试探针131，所述固定测试架200底端设置有第一测试架210，所述第一测试架210靠近测试转盘100的一端设置两个定位检测器212，所述第一测试架210位于定位检测器212的下端设置第一检测探针213，所述第一测试架210靠近测试转盘100的一侧设置第二测试架220，所述第二测试架220两侧的上方均设置探针控制器222，两个所述探针控制器222靠近第一测试架210的一侧均设置第二检测探针221。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 湖南健坤激光科技有限公司 一种OIS测试设备

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