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【发明公布】物联网设备性能测试系统及方法_中国建设银行股份有限公司_202311737283.3 

申请/专利权人:中国建设银行股份有限公司

申请日:2023-12-15

公开(公告)日:2024-03-19

公开(公告)号:CN117729140A

主分类号:H04L43/50

分类号:H04L43/50;H04L43/18;H04B17/10;H04B17/29;H04W24/10;H04L67/12

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.04.05#实质审查的生效;2024.03.19#公开

摘要:本发明公开了物联网设备性能测试系统及方法,系统包括:室外定位测试模块用于采集室外应用场景下的环境信号;根据环境信号生成测试用例;天线测试模块用于对待测设备的辐射功率和接收机性能进行测试,控制标准被测设备分别在认证级暗室及远程暗室中进行测试,根据认证级暗室及远程暗室分别得到的测试结果确定标准被测设备的性能差值;采集待测设备的射频信号;物联网协议测试模块用于对待测设备中各类型的物联网协议进行分析测试。本发明提供了统一的标准化测试平台,提高了物联网设备性能测试的全面性及效率。

主权项:1.一种物联网设备性能测试系统,其特征在于,包括:室外定位测试模块、天线测试模块、射频测试模块、物联网协议测试模块;室外定位测试模块用于采集室外应用场景下的环境信号;根据环境信号生成测试用例;根据测试用例对待测设备进行室外定位性能测试,得到测试数据,将测试数据上传至云端分析,生成测试报告;天线测试模块用于对待测设备的辐射功率和接收机性能进行测试,控制标准被测设备分别在认证级暗室及远程暗室中进行测试,根据认证级暗室及远程暗室分别得到的测试结果确定标准被测设备的性能差值;采用该性能差值对远程暗室中后续的测试结果进行补偿;射频测试模块用于播放测试信号,采集待测设备的射频信号;物联网协议测试模块用于对待测设备中各类型的物联网协议进行分析测试。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国建设银行股份有限公司 物联网设备性能测试系统及方法

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